檢測(cè)報(bào)告圖片

導(dǎo)體材料檢測(cè)報(bào)告如何辦理？測(cè)試哪些項(xiàng)目？測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)有哪些？百檢也可依據(jù)相應(yīng)檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)或者根據(jù)您的需求設(shè)計(jì)檢測(cè)方案。做檢測(cè)，上百檢！我們只做真實(shí)檢測(cè)。

檢測(cè)項(xiàng)目：

體積電阻率、單位長(zhǎng)度電阻、抗拉強(qiáng)度和斷裂伸長(zhǎng)率試驗(yàn)、標(biāo)準(zhǔn)溫度電阻、電導(dǎo)率、電阻率、直流電阻比率、纏繞試驗(yàn)、質(zhì)量電阻率、金屬絲外徑、金屬護(hù)套厚度、鎧裝金屬絲鍍層重量試驗(yàn)、錫和銀鍍層連續(xù)性試驗(yàn)、鎳鍍層連續(xù)性試驗(yàn)、導(dǎo)電率、基體金屬雜質(zhì)含量(鉀、鈉、鈣、鎂、鋁、鉻、鐵、鎳、銅、鋅)、工業(yè)硅中鐵、鋁、鈣含量、碳化硅單晶拋光片微管密度、碳化硅單晶晶型、表面金屬雜質(zhì)含量(鉀、鈉、鈣、鎂、鋁、鉻、鐵、鎳、銅、鋅)、電阻率(電阻系數(shù))、熒光粉測(cè)定(發(fā)射峰值波長(zhǎng)、發(fā)光效能、光轉(zhuǎn)化效率、量子效率、色品坐標(biāo)、發(fā)射光譜、相對(duì)亮度)、交流電壓試驗(yàn)、直流電壓試驗(yàn)、金屬材料電阻率試驗(yàn)、選區(qū)電子衍射、表面粗糙度、平整度、結(jié)晶質(zhì)量、方塊電阻、遷移率和載流子濃度、外延片發(fā)光波長(zhǎng)、表面缺陷、外延層厚度、外延層摻雜濃度、碳、硫、鋰、鈹、硼、氟、鈉、鎂、鋁、鍺、硫、磷、氯、鉀、鈣、鈧、鈦、釩、鉻、錳、鐵、鈷、鎳、銅、鋅、鎵、砷、硒、溴、銣、鍶、釔、鋯、鈮、鉬、釕、銠、鈀、銀、鎘、銦、錫、銻、碲、碘、銫、鋇、鑭、鈰、鐠、釹、釤、銪、釓、鋱、鏑、鈥、鉺、銩、鐿、镥、鉿、鉭、鎢、錸、鋨、銥、鉑、金、汞、鉈、鉛、鉍、釷、鈾

檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)：

1、GB/T 20123-2006/ISO 15350:2000 鋼鐵 總碳硫含量的測(cè)定 高頻感應(yīng)爐燃燒后紅外吸收法(常規(guī)方法)

2、GB/T 1551-2009 硅單品電阻率測(cè)定方法

3、GB/T 14634.2-2010 熒光粉測(cè)定(發(fā)射峰值波長(zhǎng)、發(fā)光效能、光轉(zhuǎn)化效率、量子效率、色品坐標(biāo)、發(fā)射光譜、相對(duì)亮度)

4、ASTM B 193-20 電工導(dǎo)體材料電阻率標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法 ASTM B193-20

5、GB/T 18907-2013 微束分析 分析電子顯微術(shù) 透射電鏡選區(qū)電子衍射分析方法/

6、GB/T 12966:2008 鋁合金電導(dǎo)率渦流測(cè)試方法

7、GB/T 14141-2009 硅外延層、擴(kuò)散層和離子注入層薄層電阻的測(cè)定 直排四探針?lè)?

8、GB/T 32651-2016 采用高質(zhì)量分辨率輝光放電質(zhì)譜法測(cè)量太陽(yáng)能級(jí)硅中痕量元素的測(cè)試方法

9、GB/T 14634.1-2010 熒光粉測(cè)定(發(fā)射峰值波長(zhǎng)、發(fā)光效能、光轉(zhuǎn)化效率、量子效率、色品坐標(biāo)、發(fā)射光譜、相對(duì)亮度)

10、AS/NZS1660.1:1998 電纜、電線(xiàn)和導(dǎo)體試驗(yàn)方法—導(dǎo)體和金屬

11、GB/T 5838.3-2015 熒光粉測(cè)定(發(fā)射峰值波長(zhǎng)、發(fā)光效能、光轉(zhuǎn)化效率、量子效率、色品坐標(biāo)、發(fā)射光譜、相對(duì)亮度)

12、SJ 21535-2018 電力電子器件用碳化硅外延片規(guī)范 SJ21535-2018

13、GB/T 351-2019 金屬材料 電阻率測(cè)量方法

14、ASTMB193-16 電工導(dǎo)體材料電阻率標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法

15、CSA22.2NO.0.3-09(R2019) 電線(xiàn)電纜試驗(yàn)方法

16、GB/T 30854-2014 LED發(fā)光用氮化鎵基外延片 GB/T 30854-2014

17、AS/NZS 1660.1:1998 電纜、電線(xiàn)和導(dǎo)體試驗(yàn)方法—導(dǎo)體和金屬 2

18、SJ 21535-2018 電力電子器件用碳化硅外延片規(guī)范 SJ 21535-2018

19、GB/T 24582-2009 表面金屬雜質(zhì)含量(鉀、鈉、鈣、鎂、鋁、鉻、鐵、鎳、銅、鋅)

20、SJ/T 11501-2015 碳化硅單晶晶型的測(cè)試方法

檢測(cè)報(bào)告用途

商超入駐、電商上架、內(nèi)部品控、招投標(biāo)、高校科研等。

檢測(cè)報(bào)告有效期

一般檢測(cè)報(bào)告上會(huì)標(biāo)注實(shí)驗(yàn)室收到樣品的時(shí)間、出具報(bào)告的時(shí)間。檢測(cè)報(bào)告上不會(huì)標(biāo)注有效期。常規(guī)來(lái)說(shuō)只要測(cè)試沒(méi)更新，測(cè)試不變檢測(cè)報(bào)告一直有效。如果是用于過(guò)電商平臺(tái)，一般他們只認(rèn)可一年內(nèi)的。所以還要看平臺(tái)或買(mǎi)家的要求。

檢測(cè)費(fèi)用價(jià)格

因測(cè)試項(xiàng)目及實(shí)驗(yàn)復(fù)雜程度不同，具體請(qǐng)聯(lián)系客服確定后進(jìn)行報(bào)價(jià)。

檢測(cè)報(bào)告有效期

一般導(dǎo)體材料檢測(cè)檢驗(yàn)認(rèn)證測(cè)試報(bào)告上會(huì)標(biāo)注實(shí)驗(yàn)室收到樣品的時(shí)間、出具報(bào)告的時(shí)間，不會(huì)標(biāo)注有效期。

檢測(cè)費(fèi)用價(jià)格

需要根據(jù)檢測(cè)項(xiàng)目、樣品數(shù)量及檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)而定，請(qǐng)聯(lián)系我們確定后報(bào)價(jià)。

檢測(cè)流程步驟

檢測(cè)機(jī)構(gòu)平臺(tái)

百檢匯集眾多CNAS、CMA、CAL等資質(zhì)的檢測(cè)機(jī)構(gòu)遍布全國(guó)，檢測(cè)領(lǐng)域全行業(yè)覆蓋，為您提供導(dǎo)體材料檢測(cè)檢驗(yàn)認(rèn)證測(cè)試服務(wù)。具體請(qǐng)咨詢(xún)?cè)诰€(xiàn)客服。