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檢測執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn)信息一覽：
標(biāo)準(zhǔn)簡介：本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了硅中代位碳原子含量紅外吸收測量方法。
標(biāo)準(zhǔn)號：GB/T 1558-1997
標(biāo)準(zhǔn)名稱：硅中代位碳原子含量 紅外吸收測量方法
英文名稱：Test method for substitutional atomic carbon content of silicon by infrared absorption
標(biāo)準(zhǔn)類型：國家標(biāo)準(zhǔn)
標(biāo)準(zhǔn)性質(zhì)：推薦性
標(biāo)準(zhǔn)狀態(tài)：作廢
發(fā)布日期：1997-01-02
實(shí)施日期：1998-08-01
中國標(biāo)準(zhǔn)分類號（CCS）：冶金>>金屬理化性能試驗(yàn)方法>>H21金屬物理性能試驗(yàn)方法
國際標(biāo)準(zhǔn)分類號（ICS）：電氣工程>>29.045半導(dǎo)體材料
替代以下標(biāo)準(zhǔn)：替代GB 1558-1983;被GB/T 1558-2009代替
起草單位：峨嵋半導(dǎo)體材料研究所
歸口單位：全國半導(dǎo)體材料和設(shè)備標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會
發(fā)布單位：國家技術(shù)監(jiān)督局
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