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檢測執(zhí)行標準信息一覽：
標準簡介：本部分為GB/T19403的一部分，等同采用國際電工委員會標準IEC60748-11-1：1992《半導體器件集成電路第11部分：第1節(jié)：半導體集成電路內(nèi)部目檢》。
標準號：GB/T 19403.1-2003
標準名稱：半導體器件 集成電路 第11部分：第1篇：半導體集成電路 內(nèi)部目檢 （不包括混合電路）
英文名稱：Semiconductor devices—Integrated Circuits—Part 11:Section 1:Internal visual examination for semiconductor integrated circuits (excluding hybrid circuits)
標準類型：國家標準
標準性質(zhì)：推薦性
標準狀態(tài)：現(xiàn)行
發(fā)布日期：2003-11-24
實施日期：2004-08-01
中國標準分類號（CCS）：電子元器件與信息技術(shù)>>微電路>>L56半導體集成電路
國際標準分類號（ICS）：電子學>>31.200集成電路、微電子學
起草單位：信息產(chǎn)業(yè)部第四研究所
歸口單位：全國半導體器件標準化技術(shù)委員會
發(fā)布單位：國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗檢疫.
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