檢測報告圖片模板:
檢測執(zhí)行標準信息一覽:
標準簡介:本標準規(guī)定了半導體設(shè)施接口技術(shù)文件編寫的基本要求和格式。本標準適用于半導體設(shè)施的設(shè)計、施工、供應(yīng)、管理、培訓及使用。
標準號:GB/T 15873-1995
標準名稱:半導體設(shè)施接口技術(shù)文件編寫導則
英文名稱:Directives for drafting semiconductor facilities interface specification
標準類型:國家標準
標準性質(zhì):推薦性
標準狀態(tài):現(xiàn)行
發(fā)布日期:1995-01-02
實施日期:1996-08-01
中國標準分類號(CCS):電子元器件與信息技術(shù)>>電子工業(yè)生產(chǎn)設(shè)備>>L97加工專用設(shè)備
國際標準分類號(ICS):電子學>>電子電信設(shè)備用機電零部件>>31.220.10插頭和插座裝置、連接器
起草單位:中國華晶電子集團公司
歸口單位:信息產(chǎn)業(yè)部(電子)
發(fā)布單位:國家技術(shù)監(jiān)督局
標準文檔查詢及下載
免責聲明:(更多標準請先聯(lián)系客服查詢!)
1.本站標準庫為非營利性質(zhì),僅供各行人士相互交流、學習使用,使用標準請以正式出版的版本為準。
2.全部標準資料均來源于網(wǎng)絡(luò),不保證文件的準確性和完整性,如因使用文件造成損失,本站不承擔任何責任。
3.全部標準資料均來源于網(wǎng)絡(luò),本站不承擔任何技術(shù)及版權(quán)問題,如有相關(guān)內(nèi)容侵權(quán),請聯(lián)系我們刪除。