標(biāo)準(zhǔn)簡介：本部分規(guī)定了污染試驗條件、條件試驗、試驗程序及環(huán)境試驗標(biāo)記。本部分中所指的“污染”的含義是腐蝕性化學(xué)物質(zhì)1)(以下稱試劑)同光學(xué)儀器的接觸。本部分適用于光學(xué)儀器、裝有光學(xué)零部件的儀器和光學(xué)零部件。1) 不包括放射性元素和同位素及危險性化學(xué)物質(zhì)如2,2-二氧二乙硫醚。本部分不適用于作為正常的生產(chǎn)控制。本試驗?zāi)康氖茄芯績x器,尤其是儀器的表面、涂層或合成材料短時間內(nèi)暴露在試劑中的抵抗能力。試驗通常只用于在使用期有可能遭受污染的儀器選擇材料或元件時參考。

標(biāo)準(zhǔn)號：GB/T 12085.13-2010

標(biāo)準(zhǔn)名稱：光學(xué)和光學(xué)儀器　環(huán)境試驗方法　第13部分：沖擊、碰撞或自由跌落與高溫、低溫綜合試驗

英文名稱：Optics and optical instruments—Environmental test methods—Part 13:Combined shock bump or free fall and dry heat or cold

標(biāo)準(zhǔn)類型：國家標(biāo)準(zhǔn)

標(biāo)準(zhǔn)性質(zhì)：推薦性

標(biāo)準(zhǔn)狀態(tài)：現(xiàn)行

發(fā)布日期：2011-01-14

實(shí)施日期：2011-05-01

中國標(biāo)準(zhǔn)分類號（CCS）：儀器、儀表>>光學(xué)儀器>>N30光學(xué)儀器綜合

國際標(biāo)準(zhǔn)分類號（ICS）：成像技術(shù)>>37.020光學(xué)設(shè)備

替代以下標(biāo)準(zhǔn)：替代GB/T 12085.13-1989

起草單位：上海理工大學(xué)、寧波永新光學(xué)股份有限公司

歸口單位：全國光學(xué)和光子學(xué)標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(SAC/TC 103)

發(fā)布單位：國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗檢疫.