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檢測(cè)執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn)信息一覽：
標(biāo)準(zhǔn)簡(jiǎn)介：本部分規(guī)定了低溫和低氣壓綜合試驗(yàn)的試驗(yàn)條件、條件試驗(yàn)、試驗(yàn)程序及環(huán)境試驗(yàn)標(biāo)記。本部分適用于在高山地區(qū)或飛機(jī)儀表盤上或**上使用的光學(xué)儀器、裝有光學(xué)零部件的儀器和光學(xué)零部件。本試驗(yàn)?zāi)康氖茄芯吭嚇拥墓鈱W(xué)、熱學(xué)、化學(xué)和電學(xué)等特性受到低溫與低氣壓影響的變化程度，包括測(cè)定水的冷凝和凍結(jié)對(duì)儀器或零部件的附加影響。
標(biāo)準(zhǔn)號(hào)：GB/T 12085.5-2010
標(biāo)準(zhǔn)名稱：光學(xué)和光學(xué)儀器 環(huán)境試驗(yàn)方法 第5部分：低溫、低氣壓綜合試驗(yàn)
英文名稱：Optics and optical instruments—Environmental test methods—Part 5:Combined cold low air pressure
標(biāo)準(zhǔn)類型：國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)
標(biāo)準(zhǔn)性質(zhì)：推薦性
標(biāo)準(zhǔn)狀態(tài)：現(xiàn)行
發(fā)布日期：2011-01-14
實(shí)施日期：2011-05-01
中國(guó)標(biāo)準(zhǔn)分類號(hào)（CCS）：儀器、儀表>>光學(xué)儀器>>N30光學(xué)儀器綜合
國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)分類號(hào)（ICS）：成像技術(shù)>>37.020光學(xué)設(shè)備
替代以下標(biāo)準(zhǔn)：替代GB/T 12085.5-1989
起草單位：寧波永新光學(xué)股份有限公司、上海理工大學(xué)
歸口單位：全國(guó)光學(xué)和光子學(xué)標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)(SAC/TC 103)
發(fā)布單位：國(guó)家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫.
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