檢測報告圖片模板：
檢測執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn)信息一覽：
標(biāo)準(zhǔn)號：GB/T 36053-2018
中文標(biāo)準(zhǔn)名稱：
X射線反射法測量薄膜的厚度、密度和界面寬度 儀器要求、準(zhǔn)直和定位、數(shù)據(jù)采集、數(shù)據(jù)分析和報告英文標(biāo)準(zhǔn)名稱
Evaluation of thickness, density and interface width of thin films by X-ray reflectometry—Instrumental requirements, alignment and positioning, data collection, data analysis and reporting
標(biāo)準(zhǔn)狀態(tài)
現(xiàn)行
主要起草單位
中國計量科學(xué)研究院 。
主要起草人
王海 、王梅玲 、張艾蕊 、宋小平 。
采標(biāo)情況
本標(biāo)準(zhǔn)等同采用ISO標(biāo)準(zhǔn)：ISO 16413:2013。
采標(biāo)中文名稱:X射線反射測量法評估薄膜的厚度、密度和界面寬度—儀器要求、準(zhǔn)直和定位、數(shù)據(jù)采集、數(shù)據(jù)分析和報告。
標(biāo)準(zhǔn)文檔查詢及下載
免責(zé)聲明：(更多標(biāo)準(zhǔn)請先聯(lián)系客服查詢！)
1.本站標(biāo)準(zhǔn)庫為非營利性質(zhì)，僅供各行人士相互交流、學(xué)習(xí)使用，使用標(biāo)準(zhǔn)請以正式出版的版本為準(zhǔn)。
2.全部標(biāo)準(zhǔn)資料均來源于網(wǎng)絡(luò)，不保證文件的準(zhǔn)確性和完整性，如因使用文件造成損失，本站不承擔(dān)任何責(zé)任。
3.全部標(biāo)準(zhǔn)資料均來源于網(wǎng)絡(luò)，本站不承擔(dān)任何技術(shù)及版權(quán)問題，如有相關(guān)內(nèi)容侵權(quán)，請聯(lián)系我們刪除。
