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檢測(cè)執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn)信息一覽：
標(biāo)準(zhǔn)簡(jiǎn)介：半導(dǎo)體光發(fā)射器件半導(dǎo)體光敏器件半導(dǎo)體圖像器件光耦合器。
標(biāo)準(zhǔn)號(hào)：GB/T 12565-1990
標(biāo)準(zhǔn)名稱：半導(dǎo)體器件 光電子器件分規(guī)范(可供認(rèn)證用)
英文名稱：Semiconductor devices Sectional specification for optoelectronic devices
標(biāo)準(zhǔn)類型：國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)
標(biāo)準(zhǔn)性質(zhì)：推薦性
標(biāo)準(zhǔn)狀態(tài)：現(xiàn)行
發(fā)布日期：1990-01-02
實(shí)施日期：1991-10-01
中國(guó)標(biāo)準(zhǔn)分類號(hào)（CCS）：電子元器件與信息技術(shù)>>光電子器件>>L50光電子器件組合
國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)分類號(hào)（ICS）：電子學(xué)>>31.260光電子學(xué)、激光設(shè)備
起草單位：電子標(biāo)準(zhǔn)化所
歸口單位：全國(guó)半導(dǎo)體器件標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)
發(fā)布單位：信息產(chǎn)業(yè)部（電子）
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