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檢測執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn)信息一覽：
標(biāo)準(zhǔn)簡介：本規(guī)范適用于除光電子器件之外的半導(dǎo)體分立器件。
標(biāo)準(zhǔn)號(hào)：GB/T 12560-1999
標(biāo)準(zhǔn)名稱：半導(dǎo)體器件 分立器件分規(guī)范
英文名稱：Semiconductor devices --Sectional specification for discrete devices
標(biāo)準(zhǔn)類型：國家標(biāo)準(zhǔn)
標(biāo)準(zhǔn)性質(zhì)：推薦性
標(biāo)準(zhǔn)狀態(tài)：現(xiàn)行
發(fā)布日期：1999-08-02
實(shí)施日期：2000-03-01
中國標(biāo)準(zhǔn)分類號(hào)（CCS）：電子元器件與信息技術(shù)>>半導(dǎo)體分立器件>>L40半導(dǎo)體分立器件綜合
國際標(biāo)準(zhǔn)分類號(hào)（ICS）：電子學(xué)>>半導(dǎo)體器件>>31.080.01半導(dǎo)體器件綜合
替代以下標(biāo)準(zhǔn)：GB/T 12560-1990
起草單位：南京電子器件研究所
歸口單位：全國半導(dǎo)體器件標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)
發(fā)布單位：國家質(zhì)量技術(shù)監(jiān)督局
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