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GB/T12604.10-2011無損檢測報(bào)告術(shù)語磁記憶檢測報(bào)告

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檢測執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn)信息一覽:

標(biāo)準(zhǔn)簡介:本標(biāo)準(zhǔn)界定了金屬磁記憶檢測的術(shù)語和定義。本標(biāo)準(zhǔn)適用于磁記憶檢測和無損檢測及其他相關(guān)領(lǐng)域。

標(biāo)準(zhǔn)號:GB/T 12604.10-2011

標(biāo)準(zhǔn)名稱:無損檢測 術(shù)語 磁記憶檢測

英文名稱:Non-destructive testing—Terminology—Terms used in magnetic memory testing

標(biāo)準(zhǔn)類型:國家標(biāo)準(zhǔn)

標(biāo)準(zhǔn)性質(zhì):推薦性

標(biāo)準(zhǔn)狀態(tài):現(xiàn)行

發(fā)布日期:2011-06-16

實(shí)施日期:2012-03-01

中國標(biāo)準(zhǔn)分類號(CCS):機(jī)械>>機(jī)械綜合>>J04基礎(chǔ)標(biāo)準(zhǔn)與通用方法

國際標(biāo)準(zhǔn)分類號(ICS):試驗(yàn)>>19.100無損檢測

起草單位:愛德森(廈門)電子有限公司、中國特種設(shè)備檢測研究院、北京航空材料研究院等

歸口單位:全國無損檢測標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(SAC/TC56)

發(fā)布單位:國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫.

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