檢測報告圖片模板：
檢測執(zhí)行標準信息一覽：
標準簡介：本分規(guī)范適用于已封裝的半導體集成電路，包括多片集成電路，但不包括混合電路。
標準號：GB/T 12750-1991
標準名稱：半導體集成電路分規(guī)范 (不包括混合電路) (可供認證用)
英文名稱：Sectional specification for semiconductor integrated circuits, excluding hybrid circuits
標準類型：國家標準
標準性質(zhì)：推薦性
標準狀態(tài)：作廢
發(fā)布日期：1991-03-21
實施日期：1991-01-01
中國標準分類號（CCS）：電子元器件與信息技術(shù)>>微電路>>L55微電路綜合
國際標準分類號（ICS）：電子學>>31.200集成電路、微電子學
替代以下標準：被GB/T 12750-2006代替
起草單位：電子標準化所
歸口單位：全國半導體器件標準化技術(shù)委員會
發(fā)布單位：國家技術(shù)監(jiān)督局
標準文檔查詢及下載
免責聲明：(更多標準請先聯(lián)系客服查詢！)
1.本站標準庫為非營利性質(zhì)，僅供各行人士相互交流、學習使用，使用標準請以正式出版的版本為準。
2.全部標準資料均來源于網(wǎng)絡，不保證文件的準確性和完整性，如因使用文件造成損失，本站不承擔任何責任。
3.全部標準資料均來源于網(wǎng)絡，本站不承擔任何技術(shù)及版權(quán)問題，如有相關(guān)內(nèi)容侵權(quán)，請聯(lián)系我們刪除。
