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檢測(cè)執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn)信息一覽：
標(biāo)準(zhǔn)簡(jiǎn)介：本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了用掃描電鏡測(cè)量納米級(jí)長(zhǎng)度的基本原則。適用于測(cè)量10nm-500nm的點(diǎn)或線的間距。
標(biāo)準(zhǔn)號(hào)：GB/T 20307-2006
標(biāo)準(zhǔn)名稱(chēng)：納米級(jí)長(zhǎng)度的掃描電鏡測(cè)量方法通則
英文名稱(chēng)：General rules for nanometer-scale lengthmeasurement by SEM
標(biāo)準(zhǔn)類(lèi)型：國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)
標(biāo)準(zhǔn)性質(zhì)：推薦性
標(biāo)準(zhǔn)狀態(tài)：現(xiàn)行
發(fā)布日期：2006-07-19
實(shí)施日期：2007-02-01
中國(guó)標(biāo)準(zhǔn)分類(lèi)號(hào)（CCS）：儀器、儀表>>光學(xué)儀器>>N33電子光學(xué)與其他物理光學(xué)儀器
國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)分類(lèi)號(hào)（ICS）：計(jì)量學(xué)和測(cè)量、物理現(xiàn)象>>17.040 長(zhǎng)度和角度測(cè)量?成像技術(shù)>>37.020光學(xué)設(shè)備
起草單位：中國(guó)科學(xué)院地質(zhì)與地球物理研究所、同濟(jì)大學(xué)，中國(guó)科學(xué)院化學(xué)所，中國(guó)地質(zhì)科學(xué)院礦產(chǎn)資源研究所，上海理工大學(xué)
歸口單位：全國(guó)微束分析標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)
發(fā)布單位：國(guó)家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫.
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