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檢測(cè)執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn)信息一覽:
標(biāo)準(zhǔn)簡(jiǎn)介:本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了硅單晶的牌號(hào)及分類(lèi)、要求、檢驗(yàn)方法、檢驗(yàn)規(guī)則、標(biāo)志、包裝、運(yùn)輸、貯存、質(zhì)量證明書(shū)和訂貨單(或合同)內(nèi)容等。本標(biāo)準(zhǔn)適用于直拉法、懸浮區(qū)熔法(包括中子嬗變摻雜和氣相摻雜)制備的直徑不大于200mm 的硅單晶。產(chǎn)品主要用于制作半導(dǎo)體元器件。
標(biāo)準(zhǔn)號(hào):GB/T 12962-2015
標(biāo)準(zhǔn)名稱(chēng):硅單晶
英文名稱(chēng):Monocrystalline silicon
標(biāo)準(zhǔn)類(lèi)型:國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)
標(biāo)準(zhǔn)性質(zhì):推薦性
標(biāo)準(zhǔn)狀態(tài):現(xiàn)行
發(fā)布日期:2015-12-10
實(shí)施日期:2017-01-01
中國(guó)標(biāo)準(zhǔn)分類(lèi)號(hào)(CCS):冶金>>半金屬與半導(dǎo)體材料>>H82元素半導(dǎo)體材料
國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)分類(lèi)號(hào)(ICS):電氣工程>>29.045半導(dǎo)體材料
替代以下標(biāo)準(zhǔn):替代GB/T 12962-2005
起草單位:有研新材料股份有限公司、天津市環(huán)歐半導(dǎo)體材料技術(shù)有限公司、浙江中晶科技股份有限公司、浙江省硅材料質(zhì)量檢驗(yàn)中心、杭州海納半導(dǎo)體有限公司、萬(wàn)向硅峰電子股份有限公司、浙江金瑞泓科技股份有限公司、上海合晶硅材料有限公司、中國(guó)有色金屬工業(yè)標(biāo)準(zhǔn)計(jì)量質(zhì)量研究所等
歸口單位:全國(guó)半導(dǎo)體設(shè)備和材料標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)(SAC/TC 203)、全
發(fā)布單位:國(guó)家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫.
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