檢測(cè)報(bào)告圖片模板：
檢測(cè)執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn)信息一覽：
標(biāo)準(zhǔn)編號(hào)：GB/T 41074-2021
標(biāo)準(zhǔn)名稱：微束分析 用于波譜和能譜分析的粉末試樣制備方法
英文名稱：Microbeam analysis—Method of specimen preparation for analysis of general powders using WDS and EDS
發(fā)布部門：國家市場(chǎng)監(jiān)督管理總局 國家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會(huì)
發(fā)布日期：2021-12-31
實(shí)施日期：2022-07-01
標(biāo)準(zhǔn)狀態(tài)：現(xiàn)行/即將實(shí)施
文件格式：PDF
文件頁數(shù)：13頁
起草單位：中國地質(zhì)科學(xué)院礦產(chǎn)資源研究所、核工業(yè)北京地質(zhì)研究院、中國科學(xué)院地質(zhì)與地球物理研究所
起草人員：陳振宇、范光、毛騫
標(biāo)準(zhǔn)簡(jiǎn)介：
本文件規(guī)定了使用安裝在電子探針（EPMA）或掃描電鏡（SEM）上的能譜儀（EDS）或波譜儀（WDS）分析粉末中的顆粒時(shí)的試樣制備方法。根據(jù)分析目的和顆粒尺寸，對(duì)粉末顆粒試樣的制備方法進(jìn)行了分類。
本文件適用于粒徑范圍在100 nm——100 μm的無機(jī)物顆粒。
本文件不適用于一些特殊應(yīng)用，如法醫(yī)分析或痕量分析。
免責(zé)聲明：(更多標(biāo)準(zhǔn)請(qǐng)先聯(lián)系客服查詢！)
1.本站標(biāo)準(zhǔn)庫為非營利性質(zhì)，僅供各行人士相互交流、學(xué)習(xí)使用，使用標(biāo)準(zhǔn)請(qǐng)以正式出版的版本為準(zhǔn)。
2.全部標(biāo)準(zhǔn)資料均來源于網(wǎng)絡(luò)，不保證文件的準(zhǔn)確性和完整性，如因使用文件造成損失，本站不承擔(dān)任何責(zé)任。
3.全部標(biāo)準(zhǔn)資料均來源于網(wǎng)絡(luò)，本站不承擔(dān)任何技術(shù)及版權(quán)問題，如有相關(guān)內(nèi)容侵權(quán)，請(qǐng)聯(lián)系我們刪除。
