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檢測(cè)執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn)信息一覽：
標(biāo)準(zhǔn)號(hào)：GB/T 17365-1998
標(biāo)準(zhǔn)名稱(chēng)：金屬與合金電子探針定量分析樣品的制備方法
英文名稱(chēng)：Method of preparation for samples of metal and alloy in electron probe microanalysis
標(biāo)準(zhǔn)類(lèi)型：國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)
標(biāo)準(zhǔn)性質(zhì)：推薦性
標(biāo)準(zhǔn)狀態(tài)：現(xiàn)行
發(fā)布日期：1998-05-08
實(shí)施日期：1998-01-02
中國(guó)標(biāo)準(zhǔn)分類(lèi)號(hào)（CCS）：儀器、儀表>>光學(xué)儀器>>N33電子光學(xué)與其他物理光學(xué)儀器
國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)分類(lèi)號(hào)（ICS）：成像技術(shù)>>37.020光學(xué)設(shè)備
起草單位：冶金部鋼鐵研究總院和中科院金屬所
歸口單位：全國(guó)微束分析標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)
發(fā)布單位：國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員.
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