標(biāo)準(zhǔn)簡(jiǎn)介：GB/T 17178的本部分規(guī)定了要求并給出了指南，以便產(chǎn)生用于一個(gè)或多個(gè)OSI規(guī)范的與系統(tǒng)無關(guān)的一致性測(cè)試套。特別地，它適用于產(chǎn)生所有OSI一致性測(cè)試規(guī)范，包括這些一致性測(cè)試規(guī)范的所有草案版本。本部分適用于產(chǎn)生抽象測(cè)試?yán)?，該抽象測(cè)試?yán)龑⑼ㄟ^控制和觀察協(xié)議行為，按照相關(guān)靜態(tài)和/或動(dòng)態(tài)一致性要求檢驗(yàn)實(shí)現(xiàn)的一致性。本部分所包括的抽象測(cè)試方法實(shí)際上能用于規(guī)定任何測(cè)試?yán)?，該測(cè)試?yán)苡每刂婆c觀察協(xié)議數(shù)據(jù)單元（PDUs）和抽象服務(wù)原語（ASPs）來抽象的表達(dá)。對(duì)某些協(xié)議雖然測(cè)試?yán)切枰模荒苓@一措辭來表達(dá)測(cè)試?yán)?。這種測(cè)試?yán)浔旧砜赡苄枰谝恢滦詼y(cè)試規(guī)范中，但這種測(cè)試?yán)?guī)范超出本部分的范圍。

標(biāo)準(zhǔn)號(hào)：GB/T 17178.2-2010

標(biāo)準(zhǔn)名稱：信息技術(shù)　開放系統(tǒng)互連　一致性測(cè)試方法和框架　第2部分：抽象測(cè)試套規(guī)范

英文名稱：Information technology—Open systems interconnection—Conformance testing methodology and framework—Part 2:Abstract test suite specification

標(biāo)準(zhǔn)類型：國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)

標(biāo)準(zhǔn)性質(zhì)：推薦性

標(biāo)準(zhǔn)狀態(tài)：現(xiàn)行

發(fā)布日期：2011-01-14

實(shí)施日期：2011-05-01

中國(guó)標(biāo)準(zhǔn)分類號(hào)（CCS）：電子元器件與信息技術(shù)>>信息處理技術(shù)>>L79計(jì)算機(jī)開放與系統(tǒng)互連

國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)分類號(hào)（ICS）：信息技術(shù)、辦公機(jī)械設(shè)備>>35.100開放系統(tǒng)互連(OSI)

起草單位：中國(guó)電子技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)化研究所

歸口單位：全國(guó)信息技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)

發(fā)布單位：國(guó)家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫.