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GB/T 41073-2021 表面化學(xué)分析 電子能譜 X射線光電子能譜峰擬合報告的基本要求

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檢測執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn)信息一覽:

標(biāo)準(zhǔn)編號:GB/T 41073-2021

標(biāo)準(zhǔn)名稱:表面化學(xué)分析 電子能譜 X射線光電子能譜峰擬合報告的基本要求

英文名稱:Surface chemical analysis—Electron spectroscopies—Minimum reporting requirements for peak fitting in X-ray photoelectron spectroscopy

發(fā)布部門:國家市場監(jiān)督管理總局 國家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會

發(fā)布日期:2021-12-31

實(shí)施日期:2022-07-01

標(biāo)準(zhǔn)狀態(tài):現(xiàn)行/即將實(shí)施

文件格式:PDF

文件頁數(shù):22頁

起草單位:中國科學(xué)院化學(xué)研究所、中國石油化工股份有限公司石油化工科學(xué)研究院

起草人員:趙志娟、邱麗美、劉芬、章小余、王巖華

標(biāo)準(zhǔn)簡介:

本文件規(guī)定了如何報告X射線光電子能譜的峰擬合及其結(jié)果。

本文件適用于單個譜圖或一組相關(guān)譜圖的擬合,例如在深度剖析測試中采集獲得的一組相關(guān)譜圖。

本文件提供了一個應(yīng)報告的參數(shù)列表,以實(shí)現(xiàn)可重復(fù)的峰擬合或?qū)Χ鄠€譜進(jìn)行擬合與比較。

本文件不提供峰擬合的操作說明,也不提供應(yīng)采用的擬合步驟。


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