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GB/T17362-2008黃金制品的掃描電鏡X射線能譜分析方法

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檢測執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn)信息一覽:

標(biāo)準(zhǔn)簡介:本標(biāo)準(zhǔn)代替GB/T 17362-1998《黃金飾品的掃描電鏡X 射線能譜分析方法》和GB/T 17723-1999《黃金制品鍍層成分的X 射線能譜測量方法》兩個(gè)標(biāo)準(zhǔn)。本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了用配置在掃描電鏡上的X射線能譜儀對(duì)黃金制品化學(xué)成分進(jìn)行無損定量分析的方法和技術(shù)要求。本標(biāo)準(zhǔn)與GB/T 17362-1998和GB/T 17723-1999兩個(gè)標(biāo)準(zhǔn)相比主要修改如下:———將適用范圍進(jìn)行了合并,使其能分別適用于不同含金量的K 金制成的黃金制品和表面有含金鍍層的鍍金制品的鍍層成分的測定這兩種情況;———將原來兩個(gè)標(biāo)準(zhǔn)的相關(guān)章節(jié),刪去重復(fù)的部分,對(duì)不同的部分進(jìn)行整理加工形成新的文本;———?jiǎng)h去了GB/T 17723中“術(shù)語”這一節(jié);———原標(biāo)準(zhǔn)中“飾品”一律改為“制品”;———本標(biāo)準(zhǔn)不再規(guī)定選用的校正程序,操作人員可根據(jù)實(shí)際分析的試樣,自行選擇采用;———著重強(qiáng)調(diào)測定鍍層制品時(shí),工作電壓的選擇,這是對(duì)鍍層成分能否測準(zhǔn)的關(guān)鍵所在。

標(biāo)準(zhǔn)號(hào):GB/T 17362-2008

標(biāo)準(zhǔn)名稱:黃金制品的掃描電鏡X射線能譜分析方法

英文名稱:Analysis method for gold products with X-ray EDS in SEM

標(biāo)準(zhǔn)類型:國家標(biāo)準(zhǔn)

標(biāo)準(zhǔn)性質(zhì):推薦性

標(biāo)準(zhǔn)狀態(tài):現(xiàn)行

發(fā)布日期:2008-09-18

實(shí)施日期:2009-05-01

中國標(biāo)準(zhǔn)分類號(hào)(CCS):儀器、儀表>>物質(zhì)成分分析儀器與環(huán)境監(jiān)測儀器>>N53電化學(xué)、熱化學(xué)、光學(xué)式分析儀器

國際標(biāo)準(zhǔn)分類號(hào)(ICS):化工技術(shù)>>分析化學(xué)>>71.040.99有關(guān)化學(xué)分析方

替代以下標(biāo)準(zhǔn):替代GB/T 17362-1998;GB/T 17723-1999

起草單位:北京有色金屬研究總院、核工業(yè)總公司北京地質(zhì)研究院,北京鋼鐵研究總院

歸口單位:全國微束分析標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)

發(fā)布單位:國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫.

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