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檢測(cè)執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn)信息一覽：
標(biāo)準(zhǔn)簡介：本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了貴金屬漿料分辨率的測(cè)試方法。本標(biāo)準(zhǔn)適用于貴金屬漿料的分辨率測(cè)定。非貴金屬漿料亦可參照使用。
標(biāo)準(zhǔn)號(hào)：GB/T 17473.6-1998
標(biāo)準(zhǔn)名稱：厚膜微電子技術(shù)用貴金屬漿料測(cè)試方法 分辨率測(cè)定
英文名稱：Test methods of precious metal pastes used for thick film microelectronics--Determination of resolution
標(biāo)準(zhǔn)類型：國家標(biāo)準(zhǔn)
標(biāo)準(zhǔn)性質(zhì)：推薦性
標(biāo)準(zhǔn)狀態(tài)：作廢
發(fā)布日期：1998-08-19
實(shí)施日期：1999-03-01
中國標(biāo)準(zhǔn)分類號(hào)（CCS）：冶金>>金屬理化性能試驗(yàn)方法>>H23金屬工藝性能試驗(yàn)方法
國際標(biāo)準(zhǔn)分類號(hào)（ICS）：冶金>>金屬材料試驗(yàn)>>77.040.01金屬材料試驗(yàn)綜合
替代以下標(biāo)準(zhǔn)：被GB/T 17473.6-2008代替
起草單位：昆明貴金屬研究所
歸口單位：全國有色金屬標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)
發(fā)布單位：國家質(zhì)量技術(shù)監(jiān)督局
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