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檢測(cè)執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn)信息一覽：
標(biāo)準(zhǔn)簡(jiǎn)介：本標(biāo)準(zhǔn)對(duì)紅外焦平面陣列特性參數(shù)及相關(guān)量進(jìn)行了定義。本標(biāo)準(zhǔn)給出了紅外焦平面陣列特性參數(shù)的測(cè)試方法及測(cè)試條件。本標(biāo)準(zhǔn)適用于線(xiàn)列和面陣紅外焦平面陣列。
標(biāo)準(zhǔn)號(hào)：GB/T 17444-2013
標(biāo)準(zhǔn)名稱(chēng)：紅外焦平面陣列參數(shù)測(cè)試方法
英文名稱(chēng)：Measuring methods for parameters of infrared focal plane arrays
標(biāo)準(zhǔn)類(lèi)型：國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)
標(biāo)準(zhǔn)性質(zhì)：推薦性
標(biāo)準(zhǔn)狀態(tài)：現(xiàn)行
發(fā)布日期：2013-11-12
實(shí)施日期：2014-04-15
中國(guó)標(biāo)準(zhǔn)分類(lèi)號(hào)（CCS）：電子元器件與信息技術(shù)>>光電子器件>>L52紅外器件
國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)分類(lèi)號(hào)（ICS）：電子學(xué)>>31.260光電子學(xué)、激光設(shè)備
替代以下標(biāo)準(zhǔn)：替代GB/T 17444-1998
起草單位：中國(guó)科學(xué)院上海技術(shù)物理研究所
歸口單位：工業(yè)和信息化部電子工業(yè)標(biāo)準(zhǔn)化研究所
發(fā)布單位：國(guó)家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫.
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