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GB/T17473.7-2008微電子技術(shù)用貴金屬漿料測(cè)試方法可焊性、耐焊性測(cè)定

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標(biāo)準(zhǔn)簡(jiǎn)介:本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了微電子技術(shù)用貴金屬可焊漿料的可焊性、耐焊性測(cè)定方法。本標(biāo)準(zhǔn)適用于微電子技術(shù)用貴金屬可焊漿料的可焊性、耐焊性測(cè)定。 本部分代替GB/T17473.7—1998《厚膜微電子技術(shù)用貴金屬漿料測(cè)試方法 可焊性、耐焊性試驗(yàn)》。本部分與GB/T17473.7—1998相比,主要有如下變動(dòng):———范圍去除“非貴金屬漿料可焊漿料亦可參照使用”內(nèi)容;———將原標(biāo)準(zhǔn)名稱(chēng)修改為微電子技術(shù)用貴金屬漿料測(cè)試方法可焊性、耐焊性測(cè)定;———將原標(biāo)準(zhǔn)厚膜隧道燒結(jié)爐,溫度范圍為室溫~1000℃。改為:厚膜隧道燒結(jié)爐,較高使用溫度為1000℃,控制精度在±5℃;———將原標(biāo)準(zhǔn)控制焊料熔融溫度為235℃±5℃改為:根據(jù)不同的焊料確定溫度;———將原標(biāo)準(zhǔn)“浸入和取出速度為(25±5)mm/s”刪除;———將原標(biāo)準(zhǔn)“導(dǎo)體浸入焊料界面深度為2mm”改為“導(dǎo)體浸入焊料界面深度為2mm 以下”;———將原標(biāo)準(zhǔn)“浸入時(shí)間為5s±1s。浸入時(shí)間為10s±1s”改為“浸入時(shí)間根據(jù)不同漿料”確定;———將原標(biāo)準(zhǔn)8.1.1中“在放大鏡下觀(guān)察,若基片印刷圖案導(dǎo)電膜接受焊錫的面積不小于95%,則為可焊性好,小于95%為可焊性差”修改為“在放大鏡下觀(guān)察,若基片印刷圖案導(dǎo)電膜接受焊錫的面積不小于圖案面積的9/10,則為可焊性好,小于9/10為可焊性差”;———將原標(biāo)準(zhǔn)8.1.2中“基片印刷圖案若有5%未焊的面積集中在某一角,則可焊性差”修改為“基片印刷圖案若有1/5未焊面積,則可焊性差”。

標(biāo)準(zhǔn)號(hào):GB/T 17473.7-2008

標(biāo)準(zhǔn)名稱(chēng):微電子技術(shù)用貴金屬漿料測(cè)試方法 可焊性、耐焊性測(cè)定

英文名稱(chēng):Test methods of precious metals pastes used for microelectronics - Determination of solderability and solderelaching resistance

標(biāo)準(zhǔn)類(lèi)型:國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)

標(biāo)準(zhǔn)性質(zhì):推薦性

標(biāo)準(zhǔn)狀態(tài):現(xiàn)行

發(fā)布日期:2008-03-31

實(shí)施日期:2008-09-01

中國(guó)標(biāo)準(zhǔn)分類(lèi)號(hào)(CCS):冶金>>有色金屬及其合金產(chǎn)品>>H68貴金屬及其合金

國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)分類(lèi)號(hào)(ICS):冶金>>有色金屬>>77.120.99其他有色金屬及其合金

替代以下標(biāo)準(zhǔn):被GB/T 17473.7-2022代替;替代GB/T 17473.7-1998

起草單位:貴研鉑業(yè)股份有限公司

歸口單位:全國(guó)有色金屬標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)

發(fā)布單位:國(guó)家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫.

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