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GB/T17626.1-1998電磁兼容試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù)抗擾度試驗(yàn)總論

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標(biāo)準(zhǔn)簡(jiǎn)介:本標(biāo)準(zhǔn)是EMC(電磁兼容)基礎(chǔ)標(biāo)準(zhǔn)。它考察了電氣和(或)電子設(shè)備(裝置和系統(tǒng))在其電磁環(huán)境中的抗擾度試驗(yàn)。在與電力、控制和通訊網(wǎng)絡(luò)相連設(shè)備的抗擾度試驗(yàn)中,對(duì)傳導(dǎo)及輻射現(xiàn)象都作了考慮。本標(biāo)準(zhǔn)的目的是:??為有關(guān)專業(yè)標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)或其他團(tuán)體、電氣和電子設(shè)備的用戶和制造廠商提供有關(guān)EMC抗擾度規(guī)范和試驗(yàn)的通用的、全面的參考資料;??就這些試驗(yàn)的選擇和應(yīng)用提供一般性指導(dǎo)。

標(biāo)準(zhǔn)號(hào):GB/T 17626.1-1998

標(biāo)準(zhǔn)名稱:電磁兼容 試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù) 抗擾度試驗(yàn)總論

英文名稱:Electromagnetic compatibility --Testing and measurement techniques --Overview of immunity tests

標(biāo)準(zhǔn)類型:國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)

標(biāo)準(zhǔn)性質(zhì):推薦性

標(biāo)準(zhǔn)狀態(tài):作廢

發(fā)布日期:1998-01-02

實(shí)施日期:1999-01-02

中國(guó)標(biāo)準(zhǔn)分類號(hào)(CCS):電子元器件與信息技術(shù)>>電子元器件與信息技術(shù)綜合>>L06電磁兼容

國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)分類號(hào)(ICS):電信、音頻和視頻技術(shù)>>33.100電磁兼容性(EMC)

替代以下標(biāo)準(zhǔn):替代GB/T 13926.1-1992;GBT17626.1-2006替代

起草單位:機(jī)械工業(yè)部上海工業(yè)自動(dòng)化儀表研究所

歸口單位:全國(guó)電磁兼容標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)

發(fā)布單位:國(guó)家質(zhì)量技術(shù)監(jiān)督局

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