檢測報告圖片模板：
檢測執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn)信息一覽：
標(biāo)準(zhǔn)簡介：本部分為第10部分，等同采用IEC60748-2-10:1994(QC790107)《半導(dǎo)體器件集成電路第2部分：數(shù)字集成電路第10篇：集成電路動態(tài)讀/寫存儲器空白詳細(xì)規(guī)范》（英文版）。
標(biāo)準(zhǔn)號：GB/T 17574.10-2003
標(biāo)準(zhǔn)名稱：半導(dǎo)體器件 集成電路 第2-10部分：數(shù)字集成電路 集成電路動態(tài)讀/寫存儲器 空白詳細(xì)規(guī)范
英文名稱：Semiconductor devices—Integrated circuits—Part 2-10:Digital integrated circuits—Blank detail specification of integrated circuit dynamic read/write memories
標(biāo)準(zhǔn)類型：國家標(biāo)準(zhǔn)
標(biāo)準(zhǔn)性質(zhì)：推薦性
標(biāo)準(zhǔn)狀態(tài)：現(xiàn)行
發(fā)布日期：2003-01-01
實(shí)施日期：2004-08-01
中國標(biāo)準(zhǔn)分類號（CCS）：電子元器件與信息技術(shù)>>微電路>>L56半導(dǎo)體集成電路
國際標(biāo)準(zhǔn)分類號（ICS）：電子學(xué)>>31.220電子電信設(shè)備用機(jī)電零部件
起草單位：中國電子技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)化研究所（CESI）
歸口單位：全國半導(dǎo)體器件標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會
發(fā)布單位：國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫.
免責(zé)聲明：(更多標(biāo)準(zhǔn)請先聯(lián)系客服查詢！)
1.本站標(biāo)準(zhǔn)庫為非營利性質(zhì)，僅供各行人士相互交流、學(xué)習(xí)使用，使用標(biāo)準(zhǔn)請以正式出版的版本為準(zhǔn)。
2.全部標(biāo)準(zhǔn)資料均來源于網(wǎng)絡(luò)，不保證文件的準(zhǔn)確性和完整性，如因使用文件造成損失，本站不承擔(dān)任何責(zé)任。
3.全部標(biāo)準(zhǔn)資料均來源于網(wǎng)絡(luò)，本站不承擔(dān)任何技術(shù)及版權(quán)問題，如有相關(guān)內(nèi)容侵權(quán)，請聯(lián)系我們刪除。
