標(biāo)準(zhǔn)簡(jiǎn)介：GB/T17626的本部分給出了利用各種 TEM 波導(dǎo)進(jìn)行電子和電氣設(shè)備發(fā)射和抗擾度試驗(yàn)的方法。TEM 波導(dǎo)有開放式(例如,帶狀線和電磁脈沖(EMP)模擬器)和封閉式(例如,TEM 室),還可以進(jìn)一步分為單端口、雙端口和多端口波導(dǎo)。TEM 波導(dǎo)的適用頻率范圍取決于具體的試驗(yàn)需求和 TEM 波導(dǎo)的具體類型。本部分的目的是給出:———TEM 波導(dǎo)的性能,包括典型的頻率范圍和對(duì) EUT 尺寸的限制;———用于電磁兼容(EMC)試驗(yàn)的 TEM 波導(dǎo)的確認(rèn)方法;———EUT(即 EUT 殼體和連接電纜)的定義;———在 TEM 波導(dǎo)中進(jìn)行輻射發(fā)射試驗(yàn)的試驗(yàn)布置、步驟和要求;———在 TEM 波導(dǎo)中進(jìn)行輻射抗擾度試驗(yàn)的試驗(yàn)布置、步驟和要求。注:本部分規(guī)定的試驗(yàn)方法用于測(cè)量所關(guān)心設(shè)備的電磁輻射抗擾度和輻射發(fā)射。電磁輻射的模擬和測(cè)量結(jié)果對(duì)于定量確定較終安裝使用狀態(tài)下的電磁效應(yīng)是不夠準(zhǔn)確的,規(guī)定試驗(yàn)方法的主要目的是保證定性分析電磁效應(yīng)使用的不同試驗(yàn)設(shè)備所得試驗(yàn)結(jié)果的重復(fù)性。本部分的目的不是規(guī)定適用于任意特定產(chǎn)品或系統(tǒng)的試驗(yàn)方法,而是為所有感興趣的產(chǎn)品委員會(huì)提供通用的基礎(chǔ)性參考。對(duì)于輻射發(fā)射試驗(yàn),產(chǎn)品委員會(huì)應(yīng)參考國(guó)際無線電干擾特別委員會(huì)(CISPR)標(biāo)準(zhǔn)1)選擇發(fā)射限值和試驗(yàn)方法。對(duì)于輻射抗擾度試驗(yàn),由產(chǎn)品委員會(huì)負(fù)責(zé)對(duì)其管轄范圍內(nèi)的設(shè)備選擇合適的試驗(yàn)方法和抗擾度限值。本部分描述的試驗(yàn)方法獨(dú)立于 GB/T17626.32)。

標(biāo)準(zhǔn)號(hào)：GB/T 17626.20-2014

標(biāo)準(zhǔn)名稱：電磁兼容 試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù) 橫電磁波（TEM）波導(dǎo)中的發(fā)射和抗擾度試驗(yàn)

英文名稱：Electromagnetic compatibility—Testing and measurement techniques—Emission and immunity testing in transverse electromagnetic(TEM) waveguide

標(biāo)準(zhǔn)類型：國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)

標(biāo)準(zhǔn)性質(zhì)：推薦性

標(biāo)準(zhǔn)狀態(tài)：現(xiàn)行

發(fā)布日期：2014-12-22

實(shí)施日期：2015-06-01

中國(guó)標(biāo)準(zhǔn)分類號(hào)（CCS）：電子元器件與信息技術(shù)>>電子元器件與信息技術(shù)綜合>>L06電磁兼容

國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)分類號(hào)（ICS）：33.100.10;33.100.20

起草單位：東南大學(xué)、上海出入境檢驗(yàn)檢疫局、中國(guó)電力科學(xué)研究院、上海市計(jì)量測(cè)試技術(shù)研究院、中國(guó)電子技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)化研究院、中國(guó)計(jì)量科學(xué)研究院

歸口單位：全國(guó)電磁兼容標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)(SAC/TC246)

發(fā)布單位：國(guó)家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫.