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檢測執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn)信息一覽：
標(biāo)準(zhǔn)簡介：本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了紅外探測器(以下簡稱探測器)的參數(shù)測試方法及其檢測設(shè)備和儀器的要求。本標(biāo)準(zhǔn)適用于各類單元紅外探測器的參數(shù)測試,也適用于多元紅外探測器相應(yīng)的參數(shù)測試。
標(biāo)準(zhǔn)號：GB/T 13584-2011
標(biāo)準(zhǔn)名稱：紅外探測器參數(shù)測試方法
英文名稱：Measuring methods for paramaters of infrared detectors
標(biāo)準(zhǔn)類型：國家標(biāo)準(zhǔn)
標(biāo)準(zhǔn)性質(zhì)：推薦性
標(biāo)準(zhǔn)狀態(tài)：現(xiàn)行
發(fā)布日期：2011-12-30
實(shí)施日期：2012-07-01
中國標(biāo)準(zhǔn)分類號（CCS）：電子元器件與信息技術(shù)>>光電子器件>>L52紅外器件
國際標(biāo)準(zhǔn)分類號（ICS）：電子學(xué)>>31.260光電子學(xué)、激光設(shè)備
替代以下標(biāo)準(zhǔn)：替代GB/T 13584-1992
起草單位：中國科技集團(tuán)公司第十一研究所
歸口單位：中國科技集團(tuán)公司第十一研究所
發(fā)布單位：國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫.
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