檢測(cè)報(bào)告圖片模板：
檢測(cè)執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn)信息一覽：
標(biāo)準(zhǔn)簡(jiǎn)介：本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了生長(zhǎng)硅的高純藍(lán)寶石單晶拋光襯底片的技術(shù)要求、測(cè)試方法、檢驗(yàn)規(guī)則。本標(biāo)準(zhǔn)適用于制備半導(dǎo)體器件的生長(zhǎng)硅的高純藍(lán)寶石單晶拋光襯底片。
標(biāo)準(zhǔn)號(hào)：GB/T 13843-1992
標(biāo)準(zhǔn)名稱：藍(lán)寶石單晶拋光襯底片
英文名稱：Polished monocrystalline sapphire substrates
標(biāo)準(zhǔn)類型：國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)
標(biāo)準(zhǔn)性質(zhì)：推薦性
標(biāo)準(zhǔn)狀態(tài)：現(xiàn)行
發(fā)布日期：1992-01-02
實(shí)施日期：1993-08-01
中國(guó)標(biāo)準(zhǔn)分類號(hào)（CCS）：電子元器件與信息技術(shù)>>電子設(shè)備專用材料、零件、結(jié)構(gòu)件>>L90電子技術(shù)專用材料
國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)分類號(hào)（ICS）：29.040.30
替代以下標(biāo)準(zhǔn)：廢止公告：國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)公告2017年第31號(hào)
起草單位：天津半導(dǎo)體技術(shù)研究所
歸口單位：全國(guó)半導(dǎo)體材料和設(shè)備標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)
發(fā)布單位：國(guó)家技術(shù)監(jiān)督局
免責(zé)聲明：(更多標(biāo)準(zhǔn)請(qǐng)先聯(lián)系客服查詢！)
1.本站標(biāo)準(zhǔn)庫(kù)為非營(yíng)利性質(zhì)，僅供各行人士相互交流、學(xué)習(xí)使用，使用標(biāo)準(zhǔn)請(qǐng)以正式出版的版本為準(zhǔn)。
2.全部標(biāo)準(zhǔn)資料均來(lái)源于網(wǎng)絡(luò)，不保證文件的準(zhǔn)確性和完整性，如因使用文件造成損失，本站不承擔(dān)任何責(zé)任。
3.全部標(biāo)準(zhǔn)資料均來(lái)源于網(wǎng)絡(luò)，本站不承擔(dān)任何技術(shù)及版權(quán)問(wèn)題，如有相關(guān)內(nèi)容侵權(quán)，請(qǐng)聯(lián)系我們刪除。
