檢測(cè)報(bào)告圖片模板：
檢測(cè)執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn)信息一覽：
標(biāo)準(zhǔn)簡(jiǎn)介：本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了各類(lèi)金制品的金覆蓋層厚度的掃描電鏡測(cè)量方法的技術(shù)要求，本標(biāo)準(zhǔn)也適用于電子探針儀測(cè)量金覆蓋層厚度，適用的厚度測(cè)量范圍為0.2~10um。其他金屬材料的覆蓋層厚度的測(cè)量也可參照?qǐng)?zhí)行。
標(biāo)準(zhǔn)號(hào)：GB/T 17722-1999
標(biāo)準(zhǔn)名稱(chēng)：金覆蓋層厚度的掃描電鏡測(cè)量方法
英文名稱(chēng)：Gold-plated thickness measurement by SEM
標(biāo)準(zhǔn)類(lèi)型：國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)
標(biāo)準(zhǔn)性質(zhì)：推薦性
標(biāo)準(zhǔn)狀態(tài)：現(xiàn)行
發(fā)布日期：1999-04-01
實(shí)施日期：1999-01-02
中國(guó)標(biāo)準(zhǔn)分類(lèi)號(hào)（CCS）：儀器、儀表>>光學(xué)儀器>>N33電子光學(xué)與其他物理光學(xué)儀器
國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)分類(lèi)號(hào)（ICS）：成像技術(shù)>>37.020光學(xué)設(shè)備
起草單位：中國(guó)科學(xué)院北京科儀研制中心
歸口單位：全國(guó)微束分析標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)
發(fā)布單位：國(guó)家質(zhì)量技術(shù)監(jiān)督局
免責(zé)聲明：(更多標(biāo)準(zhǔn)請(qǐng)先聯(lián)系客服查詢(xún)！)
1.本站標(biāo)準(zhǔn)庫(kù)為非營(yíng)利性質(zhì)，僅供各行人士相互交流、學(xué)習(xí)使用，使用標(biāo)準(zhǔn)請(qǐng)以正式出版的版本為準(zhǔn)。
2.全部標(biāo)準(zhǔn)資料均來(lái)源于網(wǎng)絡(luò)，不保證文件的準(zhǔn)確性和完整性，如因使用文件造成損失，本站不承擔(dān)任何責(zé)任。
3.全部標(biāo)準(zhǔn)資料均來(lái)源于網(wǎng)絡(luò)，本站不承擔(dān)任何技術(shù)及版權(quán)問(wèn)題，如有相關(guān)內(nèi)容侵權(quán)，請(qǐng)聯(lián)系我們刪除。
