標準簡介：本指導(dǎo)性技術(shù)文件規(guī)定了采用高分辨透射電子顯微鏡檢測納米材料中一維或準一維納米材料的原理、術(shù)語及定義、儀器和設(shè)備、樣品制備、測量程序、結(jié)果表示和試驗報告等內(nèi)容。本指導(dǎo)性技術(shù)文件適用于測量一維或準一維納米材料的基本結(jié)構(gòu)（形貌、排列情況、大小線度的分布、晶化情況、生長取向關(guān)系），元素組分、截面及界面原子排布等。

標準號：GB/Z 21738-2008

標準名稱：一維納米材料的基本結(jié)構(gòu) 高分辨透射電子顯微鏡檢測方法

英文名稱：Fundamental structures of one dimensional nanomaterials - High resolution electron microscopy characterization

標準類型：國家標準

標準性質(zhì)：指導(dǎo)性技術(shù)文件

標準狀態(tài)：現(xiàn)行

發(fā)布日期：2008-05-08

實施日期：2008-11-01

中國標準分類號（CCS）：儀器、儀表>>光學(xué)儀器>>N30光學(xué)儀器綜合

國際標準分類號（ICS）：計量學(xué)和測量、物理現(xiàn)象>>光學(xué)和光學(xué)測量>>17.180.01光學(xué)和光學(xué)測量綜合

起草單位：中國科學(xué)院物理研究所電子顯微鏡實驗室

歸口單位：全國納米技術(shù)標準化技術(shù)委員會納米材料分技術(shù)委員會

發(fā)布單位：國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗檢疫.