標準簡介：本指導性技術文件規(guī)定了采用高分辨透射電子顯微鏡檢測納米材料中一維或準一維納米材料的原理、術語及定義、儀器和設備、樣品制備、測量程序、結(jié)果表示和試驗報告等內(nèi)容。本指導性技術文件適用于測量一維或準一維納米材料的基本結(jié)構(gòu)（形貌、排列情況、大小線度的分布、晶化情況、生長取向關系），元素組分、截面及界面原子排布等。

標準號：GB/Z 21738-2008

標準名稱：一維納米材料的基本結(jié)構(gòu) 高分辨透射電子顯微鏡檢測方法

英文名稱：Fundamental structures of one dimensional nanomaterials - High resolution electron microscopy characterization

標準類型：國家標準

標準性質(zhì)：指導性技術文件

標準狀態(tài)：現(xiàn)行

發(fā)布日期：2008-05-08

實施日期：2008-11-01

中國標準分類號（CCS）：儀器、儀表>>光學儀器>>N30光學儀器綜合

國際標準分類號（ICS）：計量學和測量、物理現(xiàn)象>>光學和光學測量>>17.180.01光學和光學測量綜合

起草單位：中國科學院物理研究所電子顯微鏡實驗室

歸口單位：全國納米技術標準化技術委員會納米材料分技術委員會

發(fā)布單位：國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗檢疫.