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GB/T14620-1993薄膜集成電路用氧化鋁陶瓷基片

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檢測執(zhí)行標準信息一覽:

標準簡介:本標準規(guī)定了薄膜集成電路用氧化鋁陶瓷基片的結(jié)構(gòu)尺寸、技術(shù)要求、試驗方法、檢驗規(guī)則、標志、包裝、運輸、貯存。本標準適用于薄膜集成電路用氧化鋁陶瓷基片。

標準號:GB/T 14620-1993

標準名稱:薄膜集成電路用氧化鋁陶瓷基片

英文名稱:Alumina ceramic substrates for thin film integrated circuits

標準類型:國家標準

標準性質(zhì):推薦性

標準狀態(tài):作廢

發(fā)布日期:1993-09-03

實施日期:1993-01-02

中國標準分類號(CCS):>>>>L32

國際標準分類號(ICS):電子學>>31.200集成電路、微電子學

替代以下標準:被GB/T 14620-2013代替

起草單位:國營七九九廠

歸口單位:信息產(chǎn)業(yè)部(電子)

發(fā)布單位:國家技術(shù)監(jiān)督局

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