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標準簡介：本標準規(guī)定了在微波頻率下利用雙諧振器法測試超導體表面電阻的方法。測試目標是在諧振頻率下Rs隨溫度的變化。本標準適用于表面電阻的測試范圍如下：———頻率：８GHz＜f＜３０GHz———測試分辨率：0.01mΩ（f＝10GHz）
標準號：GB/T 22586-2008
標準名稱：高溫超導薄膜微波表面電阻測試
英文名稱：Measurements of microwave surface resistance of resistance of HTSC thin film
標準類型：國家標準
標準性質：推薦性
標準狀態(tài)：作廢
發(fā)布日期：2008-12-15
實施日期：2009-05-01
中國標準分類號（CCS）：冶金>>金屬理化性能試驗方法>>H21金屬物理性能試驗方法
國際標準分類號（ICS）：冶金>>金屬材料試驗>>77.040.99金屬材料的其他試驗方法
替代以下標準：被GB/T 22586-2018代替
起草單位：電子科技大學、清華大學、南京大學等
歸口單位：全國超導標準化技術委員會
發(fā)布單位：國家質量監(jiān)督檢驗檢疫.
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