- N +

GB11297.7-1989銻化銦單晶電阻率及霍耳系數(shù)的測試方法

檢測報告圖片模板:

檢測報告圖片

檢測執(zhí)行標準信息一覽:

標準簡介:本方法適用于長方體和薄片銻化甸單晶樣品的電阻率和堆耳系數(shù)的測量。

標準號:GB 11297.7-1989

標準名稱:銻化銦單晶電阻率及霍耳系數(shù)的測試方法

英文名稱:Test method for resistivity and Hall coefficient in InSb single crystals

標準類型:國家標準

標準性質(zhì):強制性

標準狀態(tài):現(xiàn)行

發(fā)布日期:1988-10-09

實施日期:1990-01-01

中國標準分類號(CCS):電子元器件與信息技術(shù)>>電子設備專用材料、零件、結(jié)構(gòu)件>>L90電子技術(shù)專用材料

國際標準分類號(ICS):29.040.30

起草單位:航天工業(yè)部8358研究所和機械電子工業(yè)部第十一研究所

歸口單位:全國半導體材料和設備標準化技術(shù)委員會

發(fā)布單位:機械電子工業(yè)部

標準文檔查詢及下載

免責聲明:(更多標準請先聯(lián)系客服查詢!)

1.本站標準庫為非營利性質(zhì),僅供各行人士相互交流、學習使用,使用標準請以正式出版的版本為準。

2.全部標準資料均來源于網(wǎng)絡,不保證文件的準確性和完整性,如因使用文件造成損失,本站不承擔任何責任。

3.全部標準資料均來源于網(wǎng)絡,本站不承擔任何技術(shù)及版權(quán)問題,如有相關內(nèi)容侵權(quán),請聯(lián)系我們刪除。

返回列表
上一篇:GB/T15178-1994變?nèi)荻O管空白詳細規(guī)范
下一篇:返回列表