檢測報告圖片模板：
檢測執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn)信息一覽：
標(biāo)準(zhǔn)簡介：本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了半導(dǎo)體分立器件主要的文字符號。本標(biāo)準(zhǔn)適用于編寫半導(dǎo)體分立器件有關(guān)標(biāo)準(zhǔn)和有關(guān)技術(shù)資料。
標(biāo)準(zhǔn)號：GB/T 11499-2001
標(biāo)準(zhǔn)名稱：半導(dǎo)體分立器件文字符號
英文名稱：Letter symbols for discrete semiconductor devices
標(biāo)準(zhǔn)類型：國家標(biāo)準(zhǔn)
標(biāo)準(zhǔn)性質(zhì)：推薦性
標(biāo)準(zhǔn)狀態(tài)：現(xiàn)行
發(fā)布日期：1989-03-03
實施日期：2002-06-01
中國標(biāo)準(zhǔn)分類號（CCS）：電子元器件與信息技術(shù)>>半導(dǎo)體分立器件>>L40半導(dǎo)體分立器件綜合
國際標(biāo)準(zhǔn)分類號（ICS）：電子學(xué)>>半導(dǎo)體器件>>31.080.01半導(dǎo)體器件綜合
替代以下標(biāo)準(zhǔn)：GB/T 11499-1989(調(diào)整為SJ/T 11089-1996)
起草單位：河北半導(dǎo)體研究所
歸口單位：全國半導(dǎo)體器件標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會
發(fā)布單位：國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗檢疫.
免責(zé)聲明：(更多標(biāo)準(zhǔn)請先聯(lián)系客服查詢！)
1.本站標(biāo)準(zhǔn)庫為非營利性質(zhì)，僅供各行人士相互交流、學(xué)習(xí)使用，使用標(biāo)準(zhǔn)請以正式出版的版本為準(zhǔn)。
2.全部標(biāo)準(zhǔn)資料均來源于網(wǎng)絡(luò)，不保證文件的準(zhǔn)確性和完整性，如因使用文件造成損失，本站不承擔(dān)任何責(zé)任。
3.全部標(biāo)準(zhǔn)資料均來源于網(wǎng)絡(luò)，本站不承擔(dān)任何技術(shù)及版權(quán)問題，如有相關(guān)內(nèi)容侵權(quán)，請聯(lián)系我們刪除。
