標準簡介：本標準規(guī)定了用電子背散射衍射法(EBSD)對拋光截面進行平均晶粒尺寸的測定方法，包含與晶體試樣中的位置相關的取向、取向差和花樣質量因子的測量要求[1]。注1： 使用光學顯微鏡測定晶粒尺寸已為大家普遍接受，與其相比，EBSD具有很多技術優(yōu)勢，如高的空間分辨率和晶粒取向的定量描述等。注2： 該方法還可用于一些復雜材料（如雙相材料）的晶粒尺寸測量。注3： 對變形程度較大的試樣進行分析時，需謹慎處理結果。

標準號：GB/T 38532-2020

標準名稱：微束分析 電子背散射衍射 平均晶粒尺寸的測定

英文名稱：Microbeam analysis—Electron backscatter diffraction—Measurement of average grain size

標準類型：國家標準

標準性質：推薦性

標準狀態(tài)：現行

發(fā)布日期：2020-03-06

實施日期：2021-02-01

中國標準分類號（CCS）：化工>>化工綜合>>G04基礎標準與通用方法

國際標準分類號（ICS）：化工技術>>分析化學>>71.040.40化學分析

起草單位：中國寶武鋼鐵集團中央研究院、上海發(fā)電設備成套設計研究院、中國科學院上海硅酸鹽研究所

歸口單位：全國微束分析標準化技術委員會(SAC/TC 38)

發(fā)布單位：國家市場監(jiān)督管理總局.