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檢測執(zhí)行標(biāo)準信息一覽：
標(biāo)準簡介：本規(guī)范規(guī)定了編制半導(dǎo)體集成電路微處理器詳細規(guī)范的基本原則。本規(guī)范與GB 4589.1-84《半導(dǎo)體集成電路總規(guī)范》有關(guān)的一系列空白詳細規(guī)范之一。
標(biāo)準號：GB 7509-1987
標(biāo)準名稱：半導(dǎo)體集成電路微處理器空白詳細規(guī)范(可供認證用)
英文名稱：Blank detail specification for microprocessor semiconductor integrated circuits
標(biāo)準類型：國家標(biāo)準
標(biāo)準性質(zhì)：強制性
標(biāo)準狀態(tài)：現(xiàn)行
發(fā)布日期：1987-03-02
實施日期：1987-11-01
中國標(biāo)準分類號（CCS）：電子元器件與信息技術(shù)>>微電路>>L56半導(dǎo)體集成電路
國際標(biāo)準分類號（ICS）：信息技術(shù)、辦公機械設(shè)備>>35.160微處理機系統(tǒng)
起草單位：集成電路標(biāo)委會微機工作組
歸口單位：全國半導(dǎo)體器件標(biāo)準化技術(shù)委員會
發(fā)布單位：國家標(biāo)準局
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