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標準簡介：本標準規(guī)定了半導體單晶晶向X射線衍射定向和光圖定向的方法。本標準適用于測定半導體單晶材料大致平行于低指數(shù)原子面的晶體的表面取向。
標準號：GB/T 1555-1997
標準名稱：半導體單晶晶向測定方法
英文名稱：Test methods for determining the orientation of a semiconductor single crystal
標準類型：國家標準
標準性質(zhì)：推薦性
標準狀態(tài)：作廢
發(fā)布日期：1997-01-02
實施日期：1998-08-01
中國標準分類號（CCS）：冶金>>金屬理化性能試驗方法>>H21金屬物理性能試驗方法
國際標準分類號（ICS）：電氣工程>>29.045半導體材料
替代以下標準：替代GB 1555-1979;GB 1556-1979;GB 5254-1985;GB 5255-1985;GB 8759-1988;被GB/T 1555-2009代替
起草單位：峨嵋半導體材料廠
歸口單位：全國半導體材料和設(shè)備標準化技術(shù)委員會
發(fā)布單位：國家技術(shù)監(jiān)督局
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