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檢測(cè)執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn)信息一覽：
標(biāo)準(zhǔn)簡(jiǎn)介：本部分等同采用IEC60747-5-2：1997《半導(dǎo)體分立器件和集成電器第5-2部分：光電子器件基本額定值和特性》。
標(biāo)準(zhǔn)號(hào)：GB/T 15651.2-2003
標(biāo)準(zhǔn)名稱：半導(dǎo)體分立器件和集成電路 第5-2部分：光電子器件 基本額定值和特性
英文名稱：Discrete semiconductor devices and integrated circuits—Part 5-2:Optoelectronic devices—Essential ratings and characteristics
標(biāo)準(zhǔn)類型：國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)
標(biāo)準(zhǔn)性質(zhì)：推薦性
標(biāo)準(zhǔn)狀態(tài)：現(xiàn)行
發(fā)布日期：2003-01-01
實(shí)施日期：2004-08-01
中國(guó)標(biāo)準(zhǔn)分類號(hào)（CCS）：電子元器件與信息技術(shù)>>光電子器件>>L50光電子器件組合
國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)分類號(hào)（ICS）：電子學(xué)>>31.260光電子學(xué)、激光設(shè)備
起草單位：華禹光谷股份有限公司半導(dǎo)體廠
歸口單位：中國(guó)電子技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)化研究所(CESI)
發(fā)布單位：國(guó)家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫.
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