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GB/T15653-1995金屬氧化物半導體氣敏元件測試方法

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標準簡介:本標準規(guī)定了金屬氧化物半導體氣敏件性能參數測試方法的基本原理,沒有規(guī)定這些方法在實際使用時的技術細節(jié),測試時可按相應的詳細規(guī)范的規(guī)定進行。本標準適用于金屬氧化物半導體氣敏件性能參數的測試,其他氣敏件亦可參照使用。

標準號:GB/T 15653-1995

標準名稱:金屬氧化物半導體氣敏元件測試方法

英文名稱:Measuring methods for gas sensors of metal-oxide semiconductor

標準類型:國家標準

標準性質:推薦性

標準狀態(tài):現行

發(fā)布日期:1995-07-24

實施日期:1996-04-01

中國標準分類號(CCS):電子元器件與信息技術>>電子元件>>L15敏感元器件及傳感器

國際標準分類號(ICS):電子學>>31.020電子元件綜合

起草單位:電子工業(yè)部標準化研究所

歸口單位:信息產業(yè)部(電子)

發(fā)布單位:國家技術監(jiān)督局

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