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檢測(cè)執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn)信息一覽：
標(biāo)準(zhǔn)簡(jiǎn)介：本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了電子背散射衍射分析方法。本標(biāo)準(zhǔn)適用于安裝了電子背散射衍射附件的電子束顯微分析儀進(jìn)行物相的鑒定、晶體取向、顯微織構(gòu)以及晶界特性等方面的分析。
標(biāo)準(zhǔn)號(hào)：GB/T 19501-2004
標(biāo)準(zhǔn)名稱：電子背散射衍射分析方法通則
英文名稱：General guide for electron backscatter diffraction analysis
標(biāo)準(zhǔn)類型：國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)
標(biāo)準(zhǔn)性質(zhì)：推薦性
標(biāo)準(zhǔn)狀態(tài)：作廢
發(fā)布日期：2004-04-30
實(shí)施日期：2004-12-01
中國(guó)標(biāo)準(zhǔn)分類號(hào)（CCS）：化工>>化工綜合>>G04基礎(chǔ)標(biāo)準(zhǔn)與通用方法
國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)分類號(hào)（ICS）：化工技術(shù)>>分析化學(xué)>>71.040.50物理化學(xué)分析方
替代以下標(biāo)準(zhǔn)：被GB/T 19501-2013代替
起草單位：寶鋼股份公司技術(shù)中心
歸口單位：全國(guó)微束分析標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)
發(fā)布單位：國(guó)家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫.
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