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檢測(cè)執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn)信息一覽：
標(biāo)準(zhǔn)簡(jiǎn)介：本部分規(guī)定了彈跳或恒加速度與高溫或低溫綜合試驗(yàn)的試驗(yàn)條件、條件試驗(yàn)、試驗(yàn)程序及環(huán)境試驗(yàn)標(biāo)記。本部分適用于光學(xué)儀器、裝有光學(xué)零部件的儀器和光學(xué)零部件。本試驗(yàn)?zāi)康氖茄芯吭嚇拥墓鈱W(xué)、熱學(xué)、化學(xué)和電氣等性能受到彈跳或恒加速度與高溫、低溫影響時(shí)的變化程度。
標(biāo)準(zhǔn)號(hào)：GB/T 12085.16-2010
標(biāo)準(zhǔn)名稱：光學(xué)和光學(xué)儀器 環(huán)境試驗(yàn)方法 第16部分：彈跳或恒加速度與高溫、低溫綜合試驗(yàn)
英文名稱：Optics and optical instruments—Environmental test methods—Part 16:Combined bounce or steady-state acceleration and dry heat or cold
標(biāo)準(zhǔn)類型：國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)
標(biāo)準(zhǔn)性質(zhì)：推薦性
標(biāo)準(zhǔn)狀態(tài)：現(xiàn)行
發(fā)布日期：2011-01-14
實(shí)施日期：2011-05-01
中國(guó)標(biāo)準(zhǔn)分類號(hào)（CCS）：儀器、儀表>>光學(xué)儀器>>N30光學(xué)儀器綜合
國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)分類號(hào)（ICS）：成像技術(shù)>>37.020光學(xué)設(shè)備
替代以下標(biāo)準(zhǔn)：替代GB/T 12085.16-1995
起草單位：上海理工大學(xué)、寧波永新光學(xué)股份有限公司
歸口單位：全國(guó)光學(xué)和光子學(xué)標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)(SAC/TC 103)
發(fā)布單位：國(guó)家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫.
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