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檢測(cè)執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn)信息一覽：
標(biāo)準(zhǔn)編號(hào)：GB/T 17360-2008 鋼中低含量Si、Mn的電子探針定量分析方法
標(biāo)準(zhǔn)狀態(tài)：現(xiàn)行
標(biāo)準(zhǔn)簡(jiǎn)介：本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了低合金鋼和碳鋼中低含量Si、Mn的電子探針定量分析方法，即標(biāo)定曲線法。本標(biāo)準(zhǔn)適用于帶波譜儀的掃描電鏡。
英文名稱： Quantitative analysis method of low content Si and Mn in steel with electron probe microanalysis
替代情況： 替代GB/T 17360-1998
中標(biāo)分類： 儀器、儀表>>物質(zhì)成分分析儀器與環(huán)境監(jiān)測(cè)儀器>>N53電化學(xué)、熱化學(xué)、光學(xué)式分析儀器
ICS分類： 化工技術(shù)>>分析化學(xué)>>71.040.99有關(guān)化學(xué)分析方
發(fā)布部門： 中華人民共和國(guó)國(guó)家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫總局 中國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會(huì)
發(fā)布日期： 2008-06-16
實(shí)施日期： 2009-03-01
*發(fā)日期： 1998-05-08
提出單位： 全國(guó)微束分析標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)
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