參考答案：
電子及電氣元件檢測(cè)報(bào)告如何辦理？測(cè)試哪些項(xiàng)目？測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)有哪些？
檢測(cè)項(xiàng)目：
低頻振動(dòng)試驗(yàn)、沖擊（規(guī)定脈沖）試驗(yàn)、溫度沖擊試驗(yàn)、沖擊、恒定加速度、粒子碰撞噪聲檢測(cè)、電容檢測(cè)、電阻檢測(cè)、高溫壽命試驗(yàn)、密封試驗(yàn)、恒定加速度試驗(yàn)、溫度沖擊、鹽霧、穩(wěn)態(tài)濕熱、結(jié)構(gòu)尺寸、耐濕、耐電壓、X射線無(wú)損檢測(cè)、可焊性試驗(yàn)、微粒碰撞噪聲檢測(cè)、耐焊接熱試驗(yàn)、介質(zhì)耐電壓、低氣壓試驗(yàn)、溫度沖擊（空氣介質(zhì)）、絕緣電阻、耐濕試驗(yàn)、高溫壽命、振動(dòng)、高溫、部分參數(shù)、交變濕熱試驗(yàn)、低溫試驗(yàn)、沖擊試驗(yàn)、恒定濕熱試驗(yàn)、振動(dòng)試驗(yàn)、溫度改變?cè)囼?yàn)、鹽霧試驗(yàn)、高溫試驗(yàn)、低頻振動(dòng)、品質(zhì)因數(shù)(Q）測(cè)試、引出端強(qiáng)度、浸漬試驗(yàn)、電容量測(cè)試、電阻-溫度特性測(cè)試、直流電阻測(cè)試、穩(wěn)態(tài)加速度、穩(wěn)態(tài)濕熱試驗(yàn)、絕緣電阻測(cè)試、隨機(jī)振動(dòng)、高頻振動(dòng)、溫度循環(huán)、電功率老化、介質(zhì)耐電壓測(cè)試、品質(zhì)因素（Q）測(cè)試、接觸電阻測(cè)試、砂塵試驗(yàn)、隨機(jī)振動(dòng)試驗(yàn)、高頻振動(dòng)試驗(yàn)、濕熱試驗(yàn)、穩(wěn)態(tài)加速度試驗(yàn)、濕熱、介質(zhì)耐電壓試驗(yàn)、引出端強(qiáng)度試驗(yàn)、耐溶劑性試驗(yàn)、中等電流切換試驗(yàn)、低電平負(fù)載切換壽命試驗(yàn)、密封、粒子碰撞噪聲檢測(cè)試驗(yàn)、老練試驗(yàn)、觸點(diǎn)抖動(dòng)監(jiān)測(cè)、低氣壓
檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)：
1、GJB 360A-1996 電子及電氣元件試驗(yàn)方法
2、GJB360B-2009 方法217 電子及電氣元件試驗(yàn)方法 GJB360B-2009 方法217
3、GJB360B-2009 方法214 電子及電氣元件試驗(yàn)方法 GJB360B-2009 方法214
4、GJB360B-2009 方法213 電子及電氣元件試驗(yàn)方法 GJB360B-2009 方法213
5、GJB360B-2009 方法312 電子及電氣元件試驗(yàn)方法 GJB360B-2009 方法312
6、GJB360A-1996 電子及電氣元件試驗(yàn)方法：方法107：溫度沖擊試驗(yàn)
7、GJB360B-2009 方法212 電子及電氣元件試驗(yàn)方法 GJB360B-2009 方法212
8、GJB360B-2009 方法311 電子及電氣元件試驗(yàn)方法 GJB360B-2009 方法311
9、GJB360B-2009 方法310 電子及電氣元件試驗(yàn)方法 GJB360B-2009 方法310
10、GJB360B-2009 方法211 電子及電氣元件試驗(yàn)方法 GJB360B-2009 方法211
11、GJB360B-2009 方法112 電子及電氣元件試驗(yàn)方法 GJB360B-2009 方法112
12、GJB360A-96 《電子及電氣元件試驗(yàn)方法》 301
13、GJB360B-2009 電子及電氣元件試驗(yàn)方法：溫度沖擊試驗(yàn) 方法107
14、GB/T 2423.2-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)B：高溫 試驗(yàn)Bb
15、GJB548B-2005 微電子器件試驗(yàn)方法和程序? 方法2001.1
16、GB/T2423.3-2016 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Cab：恒定濕熱試驗(yàn)
17、MIL-STD-202H:2015 電子及電氣元件試驗(yàn)方法
18、GB/T2423.17-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Ka：鹽霧
19、GJB360B-2009 方法213 電子及電氣元件試驗(yàn)方法 4、5
20、GJB128A-1997 半導(dǎo)體分立器件試驗(yàn)方法 方法1071試驗(yàn)條件C 氟碳液粗檢漏試驗(yàn)：密封試驗(yàn)
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