參考答案：

導電薄膜檢測什么單位可以做?檢測項目及標準有哪些?費用是多少?百檢檢測可根據(jù)GB/T 26598-2011 光學儀器用透明導電薄膜規(guī)范等相關標準制定試驗方案。對導電薄膜檢測的光學性能、導電性能、外觀質(zhì)量、膜層牢固度等項目進行檢測分析。并出具嚴謹公正的導電薄膜檢測報告。

檢測項目

光學性能、導電性能、外觀質(zhì)量、膜層牢固度、附著力、摩擦系數(shù)、環(huán)境適應性、耐低溫性、耐濕熱性、耐鹽霧性等。

適用范圍

半絕緣多晶硅薄膜、氧化硅薄膜、氮化硅薄膜、聚脂薄膜、抗靜電薄膜、防銹薄膜、熱收縮薄膜、易開封薄膜等。

相關檢測標準

GB/T 26598-2011 光學儀器用透明導電薄膜規(guī)范

IEC 62951-1-2017 半導體器件. 柔性和可伸縮半導體器件. 第1部分: 柔性基板上導電薄膜的拉伸試驗方法

NF C96-050-22-2014 半導體器件. 微型機電裝置. 第22部分: 柔性基板上導電薄膜機電拉伸試驗方法

BS EN 62047-22-2014 半導體器件. 微型機電裝置. 柔性基板上導電薄膜機電拉伸試驗方法

KS C IEC 61249-5-1-2003 連接結(jié)構(gòu)用材料.第5部分:帶和不帶涂層的導電箔和薄膜的分規(guī)范.第1節(jié):銅箔(用于生產(chǎn)銅涂覆基材)

KS C IEC 61249-5-4-2003 內(nèi)部連接結(jié)構(gòu)用材料.第5部分:有或無涂層的導電箔和導電薄膜分規(guī)范.第4節(jié):導電墨水

ASTM D5904-2002(2009) 用紫外線、過硫酸鹽氧化物和薄膜導電率檢測法測定水中總含碳量、有機碳和無機碳的標準試驗方法

ASTM D5904-2002 用紫外線、過硫酸鹽氧化物和薄膜導電率檢測法測定水中總含碳量、有機碳和無機碳的標準試驗方法

NF C93-748-1998 互連結(jié)構(gòu)用材料.第8部分:不導電薄膜和涂層用分規(guī)范集.第8節(jié):暫時性聚合物涂層

DIN EN 61249-8-8-1998 互連結(jié)構(gòu)用材料.第8部分:非導電薄膜和涂層分規(guī)范集.第8節(jié):非永久性聚合物涂層

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