檢測報告圖片

單晶硅檢測報告測試項(xiàng)目有哪些？檢測標(biāo)準(zhǔn)方法是什么？檢測費(fèi)用多少呢？檢測報告有效期多久？下面百小檢為您解答。

檢測報告有效期

一般檢測報告上會標(biāo)注實(shí)驗(yàn)室收到樣品的時間、出具報告的時間。檢測報告上不會標(biāo)注有效期。常規(guī)來說只要測試沒更新，測試不變檢測報告一直有效。如果是用于過電商平臺，一般他們只認(rèn)可一年內(nèi)的。所以還要看平臺或買家的要求。

檢測樣品

單晶硅

檢測項(xiàng)目

芯片外觀，純度檢測，電阻率檢測，壽命檢測，含量檢測等。

國標(biāo)參考

GB/T 6492-1986航天用標(biāo)準(zhǔn)太陽電池

GB/T 6494-2017航天用太陽電池電性能檢測方法

GB/T 6496-2017航天用太陽電池標(biāo)定方法

GB/T 14015-1992硅-蘭寶石外延片

GB/T 20176-2006表面化學(xué)分析 二次離子質(zhì)譜 用均勻摻雜物質(zhì)測定硅中硼的原子濃度

GB/T 29054-2019太陽能電池用鑄造多晶硅塊

GB/T 29055-2019太陽能電池用多晶硅片

GB/T 29057-2012用區(qū)熔拉晶法和光譜分析法評價多晶硅棒的規(guī)程

GB/T 29195-2012地面用晶體硅太陽電池總規(guī)范

GB/T 32277-2015硅的儀器中子活化分析檢測方法

行標(biāo)參考

JC/T 1048-2018單晶硅生長用石英坩堝

JC/T 2515-2019硅粉輸送用陶瓷球閥 技術(shù)條件

SJ/T 11775-2021半導(dǎo)體材料多線切割機(jī)

SJ/T 11776-2021諧波保護(hù)器

國際標(biāo)準(zhǔn)參考

DIN 50434-1986半導(dǎo)體材料的檢驗(yàn); 單晶硅試樣的(111) 和(100) 蝕面上晶體結(jié)構(gòu)缺陷的測定

DIN 50443-1-1988半導(dǎo)體工藝使用材料的檢驗(yàn).第1部分:用X射線外形測量法檢測半導(dǎo)體單晶硅中晶體缺陷和不均勻性

DIN 50443-2-1994半導(dǎo)體工藝材料檢驗(yàn);用X射線粘撲法證明半導(dǎo)體單晶硅中晶體缺陷和不均勻性.Ⅲ-V-連接半導(dǎo)體

DIN 50453-1-1990半導(dǎo)體技術(shù)用材料的檢驗(yàn);腐蝕劑腐蝕率的測定;單晶硅,重量法

GOST 19658-1981單晶硅錠 技術(shù)條件

GOST 24392-1980單晶硅和單晶鍺 電阻率的四探針測定法

KS D0256-2002單晶硅的依據(jù)4探針的抵抗率測定法

檢測費(fèi)用價格

免費(fèi)初檢。因測試項(xiàng)目以及實(shí)驗(yàn)復(fù)雜程度不同，請聯(lián)系我們確定后進(jìn)行報價。

檢測時間周期

一般3-10天出報告，有的項(xiàng)目1天出報告，具體根據(jù)單晶硅檢測項(xiàng)目而定。

檢測流程步驟

1、電話溝通、確認(rèn)需求；

2、推薦方案、確認(rèn)報價；

3、郵寄樣品、安排檢測；

4、進(jìn)度跟蹤、結(jié)果反饋；

5、出具報告、售后服務(wù)；

6、如需加急、優(yōu)先處理；

百檢網(wǎng)匯集眾多CNAS、CMA、CAL等資質(zhì)的檢測機(jī)構(gòu)遍布全國，可為您提供單晶硅檢測服務(wù)，實(shí)驗(yàn)室就近分配。具體請咨詢在線客服。