檢測(cè)報(bào)告圖片

電子元件環(huán)境試驗(yàn)檢測(cè)報(bào)告測(cè)試項(xiàng)目有哪些？檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)方法是什么？檢測(cè)費(fèi)用多少呢？檢測(cè)報(bào)告有效期多久？下面百小檢為您解答。

檢測(cè)報(bào)告有效期

一般檢測(cè)報(bào)告上會(huì)標(biāo)注實(shí)驗(yàn)室收到樣品的時(shí)間、出具報(bào)告的時(shí)間。檢測(cè)報(bào)告上不會(huì)標(biāo)注有效期。常規(guī)來(lái)說(shuō)只要測(cè)試沒(méi)更新，測(cè)試不變檢測(cè)報(bào)告一直有效。如果是用于過(guò)電商平臺(tái)，一般他們只認(rèn)可一年內(nèi)的。所以還要看平臺(tái)或買家的要求。

元器件的檢測(cè)是一項(xiàng)必不可少的基礎(chǔ)性工作，如何準(zhǔn)確有效地檢測(cè)元器件的相關(guān)參數(shù)，判斷元器件的是否正常，不是一件千篇一律的事，必須根據(jù)不同的元器件采用不同的方法，從而判斷元器件的正常與否。

　電子元器件主要有三類檢測(cè)項(xiàng)目：

1.常規(guī)測(cè)試

主要測(cè)試電子元器件的外觀、尺寸、電性能、安全性能等;

根據(jù)元器件的規(guī)格書測(cè)試基本參數(shù)，如三極管，要測(cè)試外觀、尺寸、ICBO、VCEO、VCES、HFE、引腳拉力、引腳彎曲、可焊性、耐焊接熱等項(xiàng)目，部分出口產(chǎn)品還要測(cè)試RoHS。

2.可靠性測(cè)試

主要測(cè)試電子元器件的壽命和環(huán)境試驗(yàn);

根據(jù)使用方的要求和規(guī)格書的要求測(cè)試器件的壽命及各種環(huán)境試驗(yàn)，如三極管，要進(jìn)行高溫試驗(yàn)、低溫試驗(yàn)、潮態(tài)試驗(yàn)、振動(dòng)試驗(yàn)、較大負(fù)載試驗(yàn)、高溫耐久性試驗(yàn)等項(xiàng)目的試驗(yàn);

3.DPA分析

主要針對(duì)器件的內(nèi)部結(jié)構(gòu)及工藝進(jìn)行把控。

如三極管，主要手段有X光檢測(cè)內(nèi)部結(jié)構(gòu)、聲掃監(jiān)控內(nèi)部結(jié)構(gòu)及封裝工藝、開封監(jiān)控內(nèi)部晶圓結(jié)構(gòu)及尺寸等。其中X-Ray實(shí)時(shí)成像技術(shù)應(yīng)用日漸廣泛，由于其具有無(wú)損、快速、易用、相對(duì)低成本的特點(diǎn)，得到越來(lái)越多的電子產(chǎn)品制造商的青睞。X-ray檢測(cè)可用來(lái)檢查元器件的內(nèi)部狀態(tài)，如芯片排布、引線的排布以及引線框架的設(shè)計(jì)、焊球(引線)等。對(duì)復(fù)雜結(jié)構(gòu)的元器件，可以調(diào)整X光管的角度、電壓、電流以及圖像的對(duì)比度和亮度，獲取有效的圖像信息。

檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)

檢測(cè)費(fèi)用價(jià)格

免費(fèi)初檢。因測(cè)試項(xiàng)目以及實(shí)驗(yàn)復(fù)雜程度不同，請(qǐng)聯(lián)系我們確定后進(jìn)行報(bào)價(jià)。

檢測(cè)時(shí)間周期

一般3-10天出報(bào)告，有的項(xiàng)目1天出報(bào)告，具體根據(jù)電子元件環(huán)境試驗(yàn)檢測(cè)項(xiàng)目而定。

檢測(cè)流程步驟

1、電話溝通、確認(rèn)需求；

2、推薦方案、確認(rèn)報(bào)價(jià)；

3、郵寄樣品、安排檢測(cè)；

4、進(jìn)度跟蹤、結(jié)果反饋；

5、出具報(bào)告、售后服務(wù)；

6、如需加急、優(yōu)先處理；

百檢網(wǎng)匯集眾多CNAS、CMA、CAL等資質(zhì)的檢測(cè)機(jī)構(gòu)遍布全國(guó)，可為您提供電子元件環(huán)境試驗(yàn)檢測(cè)服務(wù)，實(shí)驗(yàn)室就近分配。具體請(qǐng)咨詢?cè)诰€客服。