報告類型： 【電子元器件金屬化掃描電子顯微鏡（SEM）檢驗檢測】電子報告、紙質(zhì)報告(中文報告、英文報告、中英文報告)
報告資質(zhì)： CMA；CNAS
檢測周期： 3-10個工作日（特殊樣品除外）
服務(wù)地區(qū)： 全國，實驗室就近分配
檢測用途： 電商平臺入駐；商超賣場入駐；產(chǎn)品質(zhì)量改進(jìn)；產(chǎn)品認(rèn)證；出口通關(guān)檢驗等
樣品要求： 樣品支持快遞取送/上門采樣，數(shù)量及規(guī)格等視檢測項而定
檢測報告圖片
電子元器件檢測項目標(biāo)準(zhǔn)及流程是什么？實驗室可依據(jù)GJB 548B-2005微電子器件試驗方法和程序檢測標(biāo)準(zhǔn)規(guī)范中的試驗方法，對電子元器件金屬化掃描電子顯微鏡（SEM）檢驗檢測等項目進(jìn)行準(zhǔn)確測試。
檢測對象
電子元器件
檢測項目
金屬化掃描電子顯微鏡（SEM）檢驗檢測
檢測標(biāo)準(zhǔn)
GJB 548B-2005微電子器件試驗方法和程序檢測
相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)
《GB 24906-2010》普通照明用50V以上自鎮(zhèn)流LED燈 安全要求 GB 24906-2010
《GB/T2423.3-2016》環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗Cab:恒定濕熱試驗 GB/T2423.3-2016
《GB/T2423.3-2016》電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗Cab：恒定濕熱試驗 GB/T2423.3-2016
《GB/T2423.1-2008》電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗A：低溫 GB/T2423.1-2008
《GB 17625.2-2007》電磁兼容 限值 對每相額定電流≤16A且無條件接入的設(shè)備在公用低壓供電系統(tǒng)中產(chǎn)生的電壓變化、電壓波動和閃爍的限制 GB 17625.2-2007
《GB/T 4857.7－2005，ISO 2247:2000》包裝 運輸包裝件基本試驗 第7部分：正弦定頻振動試驗方法 GB/T 4857.7－2005，ISO 2247:2000
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《GB/T 4857.2－2005，ISO 2233:2000》包裝 運輸包裝件基本試驗 第2部分：溫濕度調(diào)節(jié)處理 GB/T 4857.2－2005，ISO 2233:2000
《GB 24906-2010》普通照明用50V以上自鎮(zhèn)流LED燈 安全要求 GB 24906-2010 6
《GB/T 4857.23-2012，ASTM D4728:2006》包裝 運輸包裝件基本試驗 第23部分:隨機(jī)振動試驗方法 GB/T 4857.23-2012，ASTM D4728:2006
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檢測報告有效期
一般電子元器件金屬化掃描電子顯微鏡（SEM）檢驗檢測報告上會標(biāo)注實驗室收到樣品的時間、出具報告的時間，不會標(biāo)注有效期。
檢測費用價格
需要根據(jù)檢測項目、樣品數(shù)量及檢測標(biāo)準(zhǔn)而定，請聯(lián)系我們確定后報價。
檢測流程步驟
檢測機(jī)構(gòu)平臺
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