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電子元器件強加速穩(wěn)態(tài)濕熱試驗(HAST)檢測

報告類型: 【電子元器件強加速穩(wěn)態(tài)濕熱試驗(HAST)檢測】電子報告、紙質(zhì)報告(中文報告、英文報告、中英文報告)

報告資質(zhì): CMA;CNAS

檢測周期: 3-10個工作日(特殊樣品除外)

服務(wù)地區(qū): 全國,實驗室就近分配

檢測用途: 電商平臺入駐;商超賣場入駐;產(chǎn)品質(zhì)量改進;產(chǎn)品認證;出口通關(guān)檢驗等

樣品要求: 樣品支持快遞取送/上門采樣,數(shù)量及規(guī)格等視檢測項而定

概覽

檢測報告圖片

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電子元器件檢測項目標準及流程是什么?實驗室可依據(jù)GB/T 4937.4-2012半導體器件 機械和氣候試驗方法 第4部分:強加速穩(wěn)態(tài)濕熱試驗檢測標準規(guī)范中的試驗方法,對電子元器件強加速穩(wěn)態(tài)濕熱試驗(HAST)檢測等項目進行準確測試。

檢測對象

電子元器件

檢測項目

強加速穩(wěn)態(tài)濕熱試驗(HAST)檢測

檢測標準

GB/T 4937.4-2012半導體器件 機械和氣候試驗方法 第4部分:強加速穩(wěn)態(tài)濕熱試驗檢測

相關(guān)標準

《GB/T2423.2-2008》電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗B:高溫 GB/T2423.2-2008

《GB 24906-2010》普通照明用50V以上自鎮(zhèn)流LED燈 安全要求 GB 24906-2010

《GB/T2423.3-2016》環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗Cab:恒定濕熱試驗 GB/T2423.3-2016

《GB/T2423.3-2016》電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗Cab:恒定濕熱試驗 GB/T2423.3-2016

《GB/T2423.1-2008》電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗A:低溫 GB/T2423.1-2008

《GB 17625.2-2007》電磁兼容 限值 對每相額定電流≤16A且無條件接入的設(shè)備在公用低壓供電系統(tǒng)中產(chǎn)生的電壓變化、電壓波動和閃爍的限制 GB 17625.2-2007

《GB/T2423.4-2008》GB/T2423.4-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗Db:交變濕熱(12h+12h循環(huán))

《GB/T 4857.2-2005,ISO 2233:2000》包裝 運輸包裝件基本試驗 第2部分:溫濕度調(diào)節(jié)處理 GB/T 4857.2-2005,ISO 2233:2000

《GB 24906-2010》普通照明用50V以上自鎮(zhèn)流LED燈 安全要求 GB 24906-2010 6

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檢測報告有效期

一般電子元器件強加速穩(wěn)態(tài)濕熱試驗(HAST)檢測報告上會標注實驗室收到樣品的時間、出具報告的時間,不會標注有效期。

檢測費用價格

需要根據(jù)檢測項目、樣品數(shù)量及檢測標準而定,請聯(lián)系我們確定后報價。

檢測流程步驟

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檢測機構(gòu)平臺

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