- N +

電子級多晶硅檢測檢驗(yàn)認(rèn)證測試

報(bào)告類型: 【電子級多晶硅檢測檢驗(yàn)認(rèn)證測試】電子報(bào)告、紙質(zhì)報(bào)告(中文報(bào)告、英文報(bào)告、中英文報(bào)告)

報(bào)告資質(zhì): CMA;CNAS

檢測周期: 3-10個(gè)工作日(特殊樣品除外)

服務(wù)地區(qū): 全國,實(shí)驗(yàn)室就近分配

檢測用途: 電商平臺(tái)入駐;商超賣場入駐;產(chǎn)品質(zhì)量改進(jìn);產(chǎn)品認(rèn)證;出口通關(guān)檢驗(yàn)等

樣品要求: 樣品支持快遞取送/上門采樣,數(shù)量及規(guī)格等視檢測項(xiàng)而定

概覽

檢測報(bào)告圖片

檢測報(bào)告圖片

檢測項(xiàng)目:

部分參數(shù)、基硼電阻率、基磷電阻率、導(dǎo)電類型、氧化夾層、n型少數(shù)載流子壽命、碳濃度、外觀質(zhì)量、受主含量、少數(shù)載流子壽命、施主含量、結(jié)構(gòu)

檢測標(biāo)準(zhǔn):

1、GB/T 4061-2009 硅多晶斷面夾層化學(xué)腐蝕檢驗(yàn)方法

2、GB/T12963-2014 電子級多晶硅

3、GB/T 12963-2014 電子級多晶硅

4、GB/T 24581-2009 低溫傅立葉變換紅外光譜法測量硅單晶中Ⅲ、Ⅴ族雜質(zhì)含量的測試方法

5、GB/T 1553-2009 硅和鍺體內(nèi)少數(shù)載流子壽命測定 光電導(dǎo)衰減法

檢測報(bào)告用途

商超入駐、電商上架、內(nèi)部品控、招投標(biāo)、高校科研等。

檢測報(bào)告有效期

一般檢測報(bào)告上會(huì)標(biāo)注實(shí)驗(yàn)室收到樣品的時(shí)間、出具報(bào)告的時(shí)間。檢測報(bào)告上不會(huì)標(biāo)注有效期。常規(guī)來說只要測試沒更新,測試不變檢測報(bào)告一直有效。如果是用于過電商平臺(tái),一般他們只認(rèn)可一年內(nèi)的。所以還要看平臺(tái)或買家的要求。

檢測費(fèi)用價(jià)格

因測試項(xiàng)目及實(shí)驗(yàn)復(fù)雜程度不同,具體請聯(lián)系客服確定后進(jìn)行報(bào)價(jià)。

檢測報(bào)告有效期

一般電子級多晶硅檢測檢驗(yàn)認(rèn)證測試報(bào)告上會(huì)標(biāo)注實(shí)驗(yàn)室收到樣品的時(shí)間、出具報(bào)告的時(shí)間,不會(huì)標(biāo)注有效期。

檢測費(fèi)用價(jià)格

需要根據(jù)檢測項(xiàng)目、樣品數(shù)量及檢測標(biāo)準(zhǔn)而定,請聯(lián)系我們確定后報(bào)價(jià)。

檢測流程步驟

檢測流程步驟

檢測機(jī)構(gòu)平臺(tái)

百檢匯集眾多CNAS、CMA、CAL等資質(zhì)的檢測機(jī)構(gòu)遍布全國,檢測領(lǐng)域全行業(yè)覆蓋,為您提供電子級多晶硅檢測檢驗(yàn)認(rèn)證測試服務(wù)。具體請咨詢在線客服。

返回列表
上一篇:電子電氣設(shè)備(EMS)檢測檢驗(yàn)認(rèn)證測試
下一篇:電子設(shè)備可靠性檢測檢驗(yàn)認(rèn)證測試