報(bào)告類型: 【透射電鏡測(cè)試】電子報(bào)告、紙質(zhì)報(bào)告(中文報(bào)告、英文報(bào)告、中英文報(bào)告)
報(bào)告資質(zhì): CMA;CNAS
檢測(cè)周期: 3-10個(gè)工作日(特殊樣品除外)
服務(wù)地區(qū): 全國(guó),實(shí)驗(yàn)室就近分配
檢測(cè)用途: 電商平臺(tái)入駐;商超賣(mài)場(chǎng)入駐;產(chǎn)品質(zhì)量改進(jìn);產(chǎn)品認(rèn)證;出口通關(guān)檢驗(yàn)等
樣品要求: 樣品支持快遞取送/上門(mén)采樣,數(shù)量及規(guī)格等視檢測(cè)項(xiàng)而定
檢測(cè)報(bào)告圖片
Tecnai G2 F30 S-TWIN透射電子顯微鏡是一個(gè)真正多功能、多用戶環(huán)境的30OkV場(chǎng)發(fā)射透射電子顯微鏡。該儀器配備了STEM、EDX、HAADF、CCD等附件,能采集TEM明場(chǎng)、暗場(chǎng)像和高分辨像,能進(jìn)行選區(qū)電子衍射和匯聚束衍射,能進(jìn)行EDX能潛分析和高分辨STEM原子序數(shù)像的分析,STEM結(jié)合EDX點(diǎn)線、面掃描的可以進(jìn)行微區(qū)能潛分析。該儀器還配備了相關(guān)的制樣設(shè)備,包括Gantan691離子減薄儀、磁力雙噴電解減薄囂和凹坑儀等,可以進(jìn)行金屆、生物以及高分子材料等樣品的透射電子顯微鏡的制樣工作。該儀器可廣泛應(yīng)用于高分子材料、陶瓷、納米材料、生物學(xué)、醫(yī)學(xué)、化學(xué)、物理學(xué)、地質(zhì)學(xué)、金屬、半導(dǎo)體材料等領(lǐng)域的科研,是研究各種材料的超顯微結(jié)構(gòu)與性能關(guān)系所不可缺少的大型精密儀器。
送樣要求:
粉末樣品:樣品量≥2mg(磁性樣品必須由承方制樣)。
液體樣品:樣品量≥0.5ml(磁性樣品必須由承檢方制樣)。
塊體樣品:樣品尺寸≥3mm,若小于該尺寸請(qǐng)聯(lián)系在線客服具體確認(rèn)。
測(cè)試說(shuō)明
1.形貌像測(cè)試我們會(huì)提供11張左右照片,形貌加高分辨提供17張左右,能譜點(diǎn)測(cè)兩處位置,電子衍射1處,能譜面分布/能譜線掃提供一處位置,且面分布不提供元素比例,若需提供,請(qǐng)選擇面分布+能譜比例。HAADF暗場(chǎng)像提供4張照片,一般/中心暗場(chǎng)像提供一張圖片。
2.不需要形貌像的測(cè)試,普通樣品加收152 0173 3840元基礎(chǔ)上機(jī)費(fèi)用,磁性樣品300元基礎(chǔ)上機(jī)費(fèi)。
3.對(duì)于碳量子點(diǎn)/銀簇/銅簇等粒徑小于5nm的量子點(diǎn),如未發(fā)現(xiàn),收取100元基礎(chǔ)上機(jī)費(fèi)用。
4.納米材料制樣默認(rèn)的支持膜為銅材質(zhì)超薄碳支持膜,支持膜的主要成分為Cu/C/O/H,如做能譜表征需要避開(kāi)Cu元素的干擾,請(qǐng)注明使用非銅材質(zhì)的支持膜。
5.零維納米材料和三維納米材料(如量子點(diǎn)/納米顆粒)一般都是使用超薄碳支持膜,一維納米材料和二維納米材料(如納米線/石墨烯)一般使用帶孔的微柵支持膜,如果只拍形貌像介意背景上有孔,請(qǐng)注明使用普通支持膜,清晰度可能會(huì)不高。
6.選區(qū)電子衍射測(cè)試對(duì)于納米材料來(lái)說(shuō)晶粒比較小,無(wú)法踩正帶軸,選擇普通電子衍射測(cè)試即可;對(duì)于塊體樣品我們可提供踩正帶軸的服務(wù),收費(fèi)為152 0173 3840元/位置,請(qǐng)說(shuō)明針對(duì)哪些物相采正帶軸。
7.對(duì)于離子減薄制樣中的常規(guī)韌性材料指Al/Cu/Fe/Co/Ni/Ti等金屬;脆性材料指陶瓷材料/粉末燒結(jié)的脆性材料/高熵合金/甩帶材料/非晶材料等,如NdFeB、Cu-石墨、BaTiO3等;軟硬相間的材料指由兩種硬度差別比較大的金屬組成的合金如WCu合金,TiAl, Ni3Al等;易氧化的材料指Mg Zn Sn等金屬及其合金;超硬材料指硬度大于SiC的各種材料,如Al2O3. MgO, SiO2. SiC, Si3N4等。
8.針對(duì)離子減薄樣品,由于樣品本身情況造成的拍攝不成功,制樣費(fèi)和基本上機(jī)費(fèi)(普通樣品200元;磁性樣品300元)正常收取。(例:金屬樣品析出相/特定物質(zhì)分布不均或數(shù)量特別少而導(dǎo)致的拍攝不成功)。
9.對(duì)于樣品的磁性及疏松情況和顆粒之間結(jié)合力請(qǐng)仔細(xì)確認(rèn),如磁性脆性的NdFeB,無(wú)壓燒結(jié)的陶瓷樣品等。否則因隱瞞樣品信息導(dǎo)致儀器損壞,您將承擔(dān)全部賠償責(zé)任。
10.檢測(cè)周期:5個(gè)工作日(默認(rèn));10個(gè)工作日(減薄制樣+測(cè)試);超薄切片10個(gè)工作日。若樣品特殊(非常規(guī)塊體)或數(shù)量較多(≥5),檢測(cè)周期可能會(huì)有所延長(zhǎng),具體可詢問(wèn)客服人員。
11.如因儀器損壞等不可抗力造成檢測(cè)周期延誤的,我們會(huì)第一時(shí)間通知您而無(wú)須承擔(dān)檢測(cè)周期延誤的責(zé)任。
12.生物樣本請(qǐng)優(yōu)先選擇鎢燈絲透射電鏡進(jìn)行測(cè)試,如必須打能譜或看高分辨再選擇場(chǎng)發(fā)射電鏡。
檢測(cè)報(bào)告有效期
一般透射電鏡測(cè)試報(bào)告上會(huì)標(biāo)注實(shí)驗(yàn)室收到樣品的時(shí)間、出具報(bào)告的時(shí)間,不會(huì)標(biāo)注有效期。
檢測(cè)費(fèi)用價(jià)格
需要根據(jù)檢測(cè)項(xiàng)目、樣品數(shù)量及檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)而定,請(qǐng)聯(lián)系我們確定后報(bào)價(jià)。
檢測(cè)流程步驟
檢測(cè)機(jī)構(gòu)平臺(tái)
百檢匯集眾多CNAS、CMA、CAL等資質(zhì)的檢測(cè)機(jī)構(gòu)遍布全國(guó),檢測(cè)領(lǐng)域全行業(yè)覆蓋,為您提供透射電鏡測(cè)試服務(wù)。具體請(qǐng)咨詢?cè)诰€客服。