分析費用：參考價格：200-1000不等，具體費用價格根據檢測的標準和檢測項目數量而定。

砷化鎵分析范圍

砷化鎵電池，砷化鎵芯片，砷化鎵太陽能電池，砷化鎵襯底，砷化鎵薄膜，砷化鎵晶體，砷化鎵半導體，砷化鎵外延片等。

分析項目：晶片表面損傷分析，表面清洗及SEM表面分析，含量分析，晶胞結構分析，位錯密度分析，表面缺陷分析，載流子濃度分析，紅外吸收分析等。

分析報告有哪些作用?

1、銷售使用。

2、研發(fā)使用。

3、改善產品質量。

4、科研論文數據使用。

5、競標，投標使用

砷化鎵分析標準

GB/T 8757-2006砷化鎵中載流子濃度等離子共振測量方法

GB/T 8758-2006砷化鎵外延層厚度紅外干涉測量方法

GB/T 8760-2020砷化鎵單晶位錯密度的檢測方法

GB/T 11068-2006砷化鎵外延層載流子濃度電容-電壓測量方法

GB/T 11093-2007液封直拉法砷化鎵單晶及切割片

GB/T 11094-2020水平法砷化鎵單晶及切割片

GB/T 17170-2015半絕緣砷化鎵單晶深施主EL2濃度紅外吸收檢測方法

GB/T 18032-2000砷化鎵單晶AB微缺陷檢驗方法

GB/T 19199-2015半絕緣砷化鎵單晶中碳濃度的紅外吸收檢測方法

GB/T 20228-2006砷化鎵單晶

GB/T 20228-2021砷化鎵單晶

GB/T 25075-2010太陽能電池用砷化鎵單晶

GB/T 30856-2014LED外延芯片用砷化鎵襯底

GB/T 35305-2017太陽能電池用砷化鎵單晶拋光片

SJ 3242-1989砷化鎵外延片

SJ 3248-1989重摻砷化鎵和磷化銦載流子濃度的紅外反射檢測方法

SJ 3249.3-1989半絕緣砷化鎵中鉻濃度的紅外吸收檢測方法

SJ/T 11488-2015半絕緣砷化鎵電阻率、霍爾系數和遷移率檢測方法

SJ/T 11490-2015低位錯密度砷化鎵拋光片蝕坑密度的測量方法

SJ/T 11496-2015紅外吸收法測量砷化鎵中硼含量

SJ/T 11497-2015砷化鎵晶片熱穩(wěn)定性的檢測方法

SJ 20635-1997半絕緣砷化鎵剩余雜質濃度微區(qū)檢測方法

SJ 20713-1998砷化鎵用高鈍鎵中銅、錳、鎂、釩、鈦等12種雜質的等離子體光譜分析法

SJ 20714-1998砷化鎵拋光片亞損傷層的X射線雙晶衍射檢測方法

SJ 21536-2018微波功率器件及集成電路用砷化鎵外延片規(guī)范

檢測流程步驟

溫馨提示：以上內容僅供參考使用，更多檢測需求請咨詢客服。本頁面價格僅供參考，不是實際檢測費用報價，實際報價請致電公司咨詢；因實際檢測服務涉及到相關標準和具體項目，故費用差異交大，實際價格需要根據客戶需求來確定；服務說明：檢測服務必須以公司抬頭簽訂合同。