瓷片電容檢測(cè)報(bào)告如何辦理?測(cè)試哪些項(xiàng)目呢?檢測(cè)費(fèi)用價(jià)格是多少呢?下面小編為您解答。百檢也可依據(jù)相應(yīng)瓷片電容檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)或者根據(jù)您的需求設(shè)計(jì)檢測(cè)方案。做檢測(cè),上百檢!我們只做真實(shí)檢測(cè)。
檢測(cè)周期
一般3-15個(gè)工作日,可加急。
檢測(cè)方式
可寄樣檢測(cè)、目測(cè)檢測(cè)、見(jiàn)證試驗(yàn)、現(xiàn)場(chǎng)檢測(cè)等。
檢測(cè)費(fèi)用
具體根據(jù)瓷片電容檢測(cè)檢測(cè)數(shù)量和項(xiàng)目而定。詳情請(qǐng)咨詢?cè)诰€客服。
檢測(cè)產(chǎn)品
0瓷片電容簡(jiǎn)介
瓷片電容(ceramic capacitor)是一種用陶瓷材料作介質(zhì),在陶瓷表面涂覆一層金屬薄膜,再經(jīng)高溫?zé)Y(jié)后作為電*而成的電容器。通常用于高穩(wěn)定振蕩回路中,作為回路、旁路電容器及墊整電容器。
1瓷片電容分類
瓷片電容分高頻瓷介和低頻瓷介兩種。具有小的正電容溫度系數(shù)的電容器,用于高穩(wěn)定振蕩回路中,作為回路電容器及墊整電容器。低頻瓷介電容器限于在工作頻率較低的回路中作旁路或隔直流用,或?qū)Ψ€(wěn)定性和損耗要求不高的場(chǎng)合〈包括高頻在內(nèi)〉。這種電容器不宜使用在脈沖電路中,因?yàn)樗鼈円子诒幻}沖電壓擊穿。
按瓷介電容電介質(zhì)又分:
1.類電介質(zhì)(NP0,C0G);
2.類電介質(zhì)(X7R,2X1);
3.類電介質(zhì)(Y5V,2F4)瓷介電容器EIA RS-198。[1]
2瓷片電容優(yōu)缺點(diǎn)
優(yōu)點(diǎn):穩(wěn)定,絕緣性好,耐高壓
缺點(diǎn):容量比較小
3瓷片電容作用
1.MLCC(1類)—微型化,高頻化,超低損耗,低ESR,高穩(wěn)定,高耐壓,高絕緣,高可靠,無(wú)*性,低容值,低成本,耐高溫,主要應(yīng)用于高頻電路中。
2.MLCC(2類)—微型化,高比容,中高壓,無(wú)*性,高可靠,耐高溫,低ESR,低成本,主要應(yīng)用于中,低頻電路中作隔直,耦合,旁路和濾波等電容器使用。
4瓷片電容高壓
高壓瓷片電容就是以陶瓷材料為介質(zhì)的圓板電容器,在“瓷片”電容器中一般DC50v以下叫低壓,DC100V~500V為中高壓,DC1000v~6000v和為高壓,安規(guī)Y電容也是屬于高壓,DC6000v以上為超高壓 。
高壓瓷片電容作用具有耐磨直流高壓的特點(diǎn),適用于高壓旁路和耦合電路中,其中的低耗損高壓圓片具有較低的介質(zhì)損耗,特別適合在電視接收機(jī)和掃描等電路中使用。
5瓷片電容識(shí)別
瓷片電容的識(shí)別方法:電容的識(shí)別方法與電阻的識(shí)別方法基本相同,分直標(biāo)法、色標(biāo)法和數(shù)標(biāo)法3種。電容的基本單位用法拉(F)表示,其它單位還有:毫法(mF)、微法 (μF)/mju:/、納法(nF)、皮法(pF)。其中:1法拉=1000毫法(mF),1毫法=1000微法(μF),1微法=1000納法 (nF),1納法=1000皮法(pF)
容量大的電容其容量值在電容上直接標(biāo)明,如10 μF/16V
容量小的電容其容量值在電容上用字母表示或數(shù)字表示
字母表示法:1m=1000 μF 1P2=1.2PF 1n=1000PF
數(shù)字表示法:三位數(shù)字的表示法也稱電容量的數(shù)碼表示法。三位數(shù)字的前兩位數(shù)字為標(biāo)稱容量的有效數(shù)字,第三位數(shù)字表示有效數(shù)字后面零的個(gè)數(shù),它們的單位都是pF。
如:102表示標(biāo)稱容量為1000pF。
221表示標(biāo)稱容量為220pF。
224表示標(biāo)稱容量為22x10(4)pF。
在這種表示法中有一個(gè)特殊情況,就是當(dāng)?shù)谌粩?shù)字用"9"表示時(shí),是用有效數(shù)字乘上10的-1次方來(lái)表示容量大小。
如:229表示標(biāo)稱容量為22x(10-1)pF=2.2pF。
允許誤差 ±1% ±2% ±5% ±10% ±15% ±20%
如:一瓷片電容為104J表示容量為0.1 μF、誤差為±5%[1]
6瓷片電容參考資料
1.林社雄. 進(jìn)口瓷片電容耐壓值的識(shí)別[J]. 家庭電子, 2005(22):52-52.
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檢測(cè)流程步驟
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